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X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設(shè)備。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測厚儀設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運(yùn)行的X/Y軸工作臺和馬達(dá)驅(qū)動的Z軸升降臺。當(dāng)具有防護(hù)功能的測量門開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點(diǎn)，可以快速對準(zhǔn)需要測量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
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