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日本日置元器件測量儀器型號選擇

來源:上海勝雁電子有限公司   2011年11月06日 21:21  

日本日置元器件測量儀器型號選擇:

 

電感、電容、阻抗測試器 
 
阻抗分析儀IM3570
等效電路分析軟件IM9000
LCR測試儀 3535
LCR測試儀 3532-50
LCR測試儀 3522-50
 
 
 
  • 測量|Z|、L、C、R
  • 測量頻率4Hz~5MHz
  • 測量時(shí)間:0.5ms
  • 同時(shí)進(jìn)行掃頻測量和LCR測量
 
 
  • 內(nèi)置于IM3570的可選軟件
  • 5個(gè)等效電路模型
  • 可以顯示由分析結(jié)果得到的理想頻率特征圖
  • 柯爾圖,導(dǎo)納圓顯示
 
 
  • 測試|Z|, L, C, R
  • 測試源頻率100kHz~120MHz
  • 高速測量: 6ms
 
 
  • 測試|Z|, L, C, R
  • 測試源頻率42Hz~5MHz
  • 高速測量: 5ms
 
 
  • 測試|Z|, L, C, R
  • 測試源頻率DC, 1mHz~100kHz
  • 高速測量: 5ms
LCR測試儀 3511-50
 
 
 
 
 
 
 
  • 測試|Z|, L, C, R
  • 測試源頻率120Hz或1kHz
  • 高速測量: 5ms
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
生產(chǎn)線的產(chǎn)品
 
C測試儀 3506
C測試儀 3505
C測試儀 3504-60
C測試儀 3504-50
C測試儀 3504-40
 
 
 
  • C、 (tan δ), Q項(xiàng)目測試
  • 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
  • 測試源頻率 :1kHz, 1MHz
  • 高速測量: 2ms
 
 
  • C、 (tan δ), Q項(xiàng)目測試
  • 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
  • 測試源頻率: 1kHz, 100kHz, 1MHz,
  • 高速測量: 2ms
 
 
  • C、D 2項(xiàng)目測試
  • 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
  • 靜電容量:zui多可分成14類,能簡單地根據(jù)測量值進(jìn)行分類
  • 控制檢測功能
  • 測試源頻率: 120Hz, 1kHz
  • 高速測量: 2ms
  • RS-232C, GP-IB
 
 
  • C、D 2項(xiàng)目測試
  • 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
  • 靜電容量:zui多可分成14類,能簡單地根據(jù)測量值進(jìn)行分類
  • 測試源頻率: 120Hz, 1kHz
  • 高速測量: 2ms
  • RS-232C, GP-IB
 
 
  • C、D 2項(xiàng)目測試
  • 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
  • 測試源頻率: 120Hz, 1kHz
  • 高速測量: 2ms
  • RS-232C
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
低電阻測量 
(3560
建議用于接觸電阻測量)
 
電阻計(jì)RM3543, RM3543-01
電阻計(jì)RM3542, RM3542-01
電阻計(jì) 3541
微電阻計(jì) 3540
交流微電阻計(jì) 3560
 
 
 
  • 用于自動(dòng)化產(chǎn)線的理想的高速電阻計(jì)
  • 測量源:DC
  • zui快測量時(shí)間:0.9ms
  • zui小積分時(shí)間:0.1ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于自動(dòng)化產(chǎn)線的理想的高速電阻計(jì)
  • 測量源:DC
  • zui快測量時(shí)間:0.9ms
  • zui小積分時(shí)間:0.1ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于線圈或產(chǎn)線的電阻至高電阻測量
  • 測量源:DC
  • zui短響應(yīng)時(shí)間:幾毫秒
  • 采樣率: 0.6ms ±0.3ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于線圈或產(chǎn)線的電阻至高電阻測量
  • 測量源:DC
  • zui短響應(yīng)時(shí)間:100ms
  • 采樣率: 16 次/秒
  • zui高分辨率:10μΩ
 
 
  • 用于接觸電阻或電池內(nèi)阻測量
  • 測量源:AC 1kHz
  • zui短響應(yīng)時(shí)間:84ms
  • 采樣率: 60次/秒
  • 高分辨率:1μΩ
 

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