顯微組織形貌的檢測(cè)在材料科學(xué)和失效分析中起著決定性的作用。在光學(xué)顯微鏡中有許多可能使材料的真實(shí)結(jié)構(gòu)可視化。本文中顯示的圖像示例演示了使用的這些技術(shù)的信息及潛力。

圖 25 - 28 顯示了微觀結(jié)構(gòu)已經(jīng)形成，其成因是腐蝕增加了干涉相襯條件下的另一個(gè)維度。這一點(diǎn)在下述的生黃銅絲中尤為明顯（圖 27），其中可以看見晶體結(jié)構(gòu)和枝晶凝固的更多細(xì)節(jié)。

圖 25–28（從左上到右下）：通過干涉提高對(duì)比度

圖 29 - 31 是干涉相襯成像潛能的更好示例。圖 29 顯示了錫的材料特性，其中，驟加應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致新晶粒形成，并因?qū)\晶產(chǎn)生晶體狀倒逆過程。圖 30 清晰展示了晶粒微觀結(jié)構(gòu)依據(jù)晶粒方向而形成的滑移帶定位。該技術(shù)手段適用于大多數(shù)耐腐蝕硬金屬，以獲取二次粘合時(shí)球粒碳化物的更佳成像，二次粘合時(shí)，嵌入兩相鎳基合金（圖 31）。

圖 32 - 34 展示了將極為不同的物質(zhì)組合在一種材料中的情況。圖 32 顯示了銀焊陶瓷/銅接口。圖 33 展示了玻璃塑料層和玻璃纖維編織物涂層的合成物，其用于合成陶瓷基板。圖 34 顯示了電子部件的橫截面，銅導(dǎo)體的一側(cè)帶有玻璃纖維強(qiáng)化塑料，另一側(cè)帶有陶瓷結(jié)構(gòu)。

圖 29–34（從左上到右下）：通過帶/不帶著色腐蝕的試樣進(jìn)行干涉而提高對(duì)比度的示例