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便攜式全元素分析儀的測量原理主要包括X射線熒光（XRF）技術和能量散射光譜（EDS）技術。
XRF技術是利用X射線激發(fā)材料中的原子，使其產(chǎn)生熒光。當X射線照射到樣品上時，會與原子相互作用，使原子內(nèi)部的電子躍遷到高能級。當電子重新回到低能級時，會釋放出熒光X射線。不同元素的熒光X射線具有不同的波長和能量，通過測量熒光X射線的能量和強度，可以確定元素的種類和含量。
EDS技術則是通過測量材料表面電子的能量分布來確定元素的種類和含量。當電子束照射到樣品表面時，會與表面原子相互作用，使電子的能量發(fā)生散射。不同元素的散射電子具有不同的能量分布，通過測量電子的能量分布，可以確定元素的種類和含量。
除了XRF和EDS技術外，便攜式全元素分析儀還可能采用其他技術，如離子選擇電極（ISE）技術、質(zhì)譜法等。這些技術各有優(yōu)缺點，應根據(jù)具體的應用場景和檢測需求選擇合適的技術。
便攜式全元素分析儀的測量原理具有快速、準確、無損等特點。它可以對各種材料進行無損檢測，無需對樣品進行復雜處理。同時，便攜式全元素分析儀的檢測結果準確可靠，可與實驗室分析結果相媲美。其應用范圍非常廣泛，包括環(huán)保、石油、化工、地質(zhì)、冶金、礦產(chǎn)等領域，可進行現(xiàn)場快速檢測，為相關研究和生產(chǎn)提供重要的數(shù)據(jù)支持。
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