TEMP 2000A便攜式發(fā)射率測(cè)量儀/反射率測(cè)量儀技術(shù)參數(shù)
TEMP 2000A, 便攜式發(fā)射率測(cè)量儀/反射率測(cè)量儀
本產(chǎn)品的TEMP 2000A手持式發(fā)射測(cè)量儀/反射率測(cè)量儀計(jì)是作為2005年NASA技術(shù)文件第23頁中提到的老化Gier-Dunkle DB100的替代品。
TEMP 2000A便攜式發(fā)射率測(cè)量儀/反射率測(cè)量儀,緊湊,重量輕,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),易于在現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室中使用,以確定環(huán)境溫度總發(fā)射率。
實(shí)驗(yàn)室設(shè)置與樣品放置在儀器頂部。
TEMP 2000A可以方便地在實(shí)驗(yàn)室(上圖)中使用,其中樣品可以放在儀器頂部左邊,并在進(jìn)行重復(fù)測(cè)量時(shí)方便移動(dòng)。通過使用電池組和背帶,TEMP 2000A可以用作便攜式設(shè)備(下圖)。
便攜式使用測(cè)量混凝土制品
TEMP 2000A憑借*的光學(xué)系統(tǒng)提供了便攜式發(fā)射率測(cè)量儀/反射率測(cè)量儀,其測(cè)量從小于3至大于35微米波長的總半球反射率,并且放置在光路中不會(huì)由于濾光器,窗口或涂層而受限制。 TEMP 2000A光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計(jì)為最小損耗,且促進(jìn)和保持光學(xué)準(zhǔn)直,并利用AZ技術(shù)獲得得橢圓收集器,達(dá)到更好的緊湊性和便攜性,獲得高效率和測(cè)量精度。 TEMP 2000A在不再生產(chǎn)的Gier Dunkle DB-100 IR反射計(jì)**的基礎(chǔ)上并根據(jù)ASTM E408標(biāo)準(zhǔn)改進(jìn)性能和可維護(hù)性。
下表列出了TEMP 2000A的技術(shù)參數(shù)。
波長 | 小于3um 到 大于35um (不受過濾器,窗口等的限制) |
測(cè)量精度(鏡面和漫射樣品) | - 灰度樣品:滿量程的±1% |
重復(fù)性 | - 滿量程的±0.5%或更好 |
樣品類型 | 任何樣品,包括箔,絕緣體等 |
樣本大小和幾何形狀 | - 平坦表面:直徑≥0.4英寸(1厘米) |
樣品溫度 | 室溫環(huán)境 |
顯示屬性 | - 紅外反射率 |
讀數(shù) | - 數(shù)字液晶面板儀表 |
測(cè)量范圍(反射率) | 0.00 to 1.00 |
尺寸 | - 光學(xué)頭:5.25(英寸)直徑×6.8(英寸)長 |
重量 | - 光學(xué)頭:5磅 |
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