GE Panametrics 露點(diǎn)儀探頭MIS PROBE2技術(shù)參數(shù)
40多年來,GE氧化鋁水分探頭一直是工業(yè)水分測量的性能和價(jià)值標(biāo)準(zhǔn)。
在使用中,M系列濕度探頭通過互連電纜連接到GE濕度計(jì)控制臺(tái)。易用性、廣泛的測量范圍和嚴(yán)格
的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)使這些系統(tǒng)成為全球工業(yè)濕度測量的 。
內(nèi)置壓力和溫度測量
許多濕度測量參數(shù)的精確確定需要了解過程溫度和壓力。與安裝和使用單獨(dú)的溫度和壓力傳
感器相關(guān)的不便和限制已經(jīng)消除,這兩種功能都直接內(nèi)置在Moisture Image Series探頭中。
可提供一個(gè)用于測量-30至70°C(-22至158°F)溫度的非線性NTC熱敏電阻和五個(gè)固態(tài)壓阻傳感器,
用于測量高達(dá)5000 psig(345 bar)的壓力。
超低量程Ppbv標(biāo)度
Moisture Image Series 1和2分析儀的ppbv低量程是通過采用三種獨(dú)立但同樣重要的技術(shù)實(shí)現(xiàn)的。
首先,*新型基于微處理器的濕度圖像系列探頭具有16位分辨率,使其能夠檢測傳感器阻抗的微
小變化,從而檢測濕度水平。
當(dāng)與VCR兼容配件相結(jié)合時(shí),該傳感器在超高純度系統(tǒng)中提供 的性能。
可追溯到NIST的嚴(yán)格校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
每個(gè)MIS探頭的氧化鋁傳感器都在 *濕度校準(zhǔn)設(shè)備中進(jìn)行單獨(dú)校準(zhǔn)。該設(shè)施經(jīng)過幾十年的
開發(fā),可產(chǎn)生精確已知的水分濃度,可追溯到美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(NIST),每個(gè)傳感器在校準(zhǔn)
過程中都會(huì)暴露在該機(jī)構(gòu)中。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。