Holmarc 推出了一種利用 VIS-NIR 波長的創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216 測試站提供標準化的測試解決方案,適
用于各種光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計允許用戶在磁場和無磁場條件下自動測量液體、固體和薄膜樣品。專為磁光學(xué)材料研究和測試而設(shè)計,包括鐵磁和鐵磁薄膜和材料的磁特性分析。測量包括超薄磁性薄膜和多層膜的磁滯回線、橢圓度測量、介電材
料薄膜厚度測量、折射率、Delta 和 psi 測量等。系統(tǒng)可在極性、縱向和橫向配置下運行。
規(guī)格
光源:Spectra 鹵素燈、氘燈/鹵素燈或氙弧燈
單色儀 : Quasar 300F Czerny-Turner 型
波長范圍:350 - 900 納米
準直和聚焦鏡:50 毫米直徑,300 F
光學(xué)光柵:1200 l / mm
光譜色散:2.6 nm / mm
光柵尺寸:50 x 50 毫米
絕對衍射效率:45 - 65
狹縫寬度:0 ~ 3 mm 連續(xù)可調(diào)
分辨率:0.1 納米
波長精度:0.2 nm
波長重復(fù)性:0.1 nm
雜散光:10-3
線性色散的倒數(shù):2.7 毫米
光譜線半寬:0.2 nm @ 586 nm
偏振分析方法:旋轉(zhuǎn)分析方法
ARMS : 步進電機控制自動定位
光斑直徑:1 - 5 毫米
薄膜支架 樣品尺寸:1 - 12 mm
(可根據(jù)要求提供定制支架)
比色皿:10 毫米路徑長度石英比色皿
樣品室選項:高/低溫樣品架
樣品進樣裝置:步進電機控制自動定位系統(tǒng)
電磁單元:PC 控制恒流操作
冷卻方式:水冷
最大磁場:1.75 特斯拉 @ 12 毫米磁極間隙
最小磁場 磁場檢測:1 高斯
磁場精確度:± 0.05
磁場檢測:基于霍爾探針(基于 PC 的磁場測量)
磁場反饋 : 霍爾元件
冷卻器:5 ~ 25°C 冷凍水(用于冷卻電磁鐵)
容量:2 升/分鐘
電磁鐵電源:雙極型(最大 ± 90 V/5A)
電磁鐵電源:2.5 kVA AC 220V 50Hz
控制裝置:1 kVA AC 220V 50Hz
軟件 : Spectra ORMS 軟件
功能
350 - 900 nm 測量范圍
0.005 度光學(xué)旋轉(zhuǎn)分辨率
全自動控制
磁場檢測和反饋設(shè)備
MOKE 測量
橢偏測量
性能
光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量分辨率:± 0.009 度
檢測靈敏度:0.009 度(透明度大于 20%)。
穩(wěn)定性:0.03 度(透明度大于 20 % 時)。
橢圓度測量:± 0.01 度。
光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量范圍:± 90 度。
測量波長范圍:350 - 900 nm
光譜帶寬:1 納米(可變帶通高達 10 納米)
最大磁場:17,500 高斯
最小磁場 磁場檢測:1 高斯
磁場精確度:± 0.05
測量項目
或 測量具有法拉第效應(yīng)的薄膜、晶體、流體等
測量透明固體和液體的維爾德常數(shù)
法拉第旋轉(zhuǎn)角/橢圓角
極性克爾旋轉(zhuǎn)角/橢圓度角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉(zhuǎn)角特性的關(guān)系
法拉第旋轉(zhuǎn)角 vs. 波長色散特性
法拉第旋轉(zhuǎn)角與熱依賴性(可選)
測量光學(xué)特性
光學(xué)旋轉(zhuǎn)
薄膜厚度
折射率
吸收系數(shù)
光導(dǎo)率
相速度
群指數(shù)
布儒斯特角
空氣折射率
摩爾折射率
光子能量
典型動量
動量
群速度
PSI - Δ
ε1和2
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