大理石平臺的校準規(guī)程

校準前準備

1. 環(huán)境要求：溫度一般控制在20±5℃，相對濕度不高于65%，環(huán)境應清潔、無振動和強電磁干擾。

2. 器具準備：準備好激光干涉儀、電子水平儀、千分表、塞尺等經(jīng)校準合格且在有效期內(nèi)的高精度測量儀器。

3. 平臺清潔：使用軟布和清水輕輕擦拭大理石平臺表面，去除灰塵、污垢等雜質(zhì)，避免使用硬質(zhì)工具或腐蝕性清潔劑。

校準步驟

1. 平面度校準：將電子水平儀放置在大理石平臺上，在平臺的不同位置和方向進行測量，記錄水平儀的讀數(shù)，計算平臺的平面度誤差。也可使用激光干涉儀進行平面度測量，按照儀器操作說明進行測量和數(shù)據(jù)采集。

2. 平行度校準：如果有多個大理石平臺或需要測量平臺與其他平面的平行度，可使用千分表或激光干涉儀，將測量頭或反射鏡放置在被測平面上，移動測量裝置，測量不同位置的距離變化，計算平行度誤差。

3. 垂直度校準：使用直角尺或垂直度測量儀，將直角尺的一邊與大理石平臺的一個側面貼合，另一邊與另一個需要測量垂直度的平面貼合，用塞尺測量直角尺與被測平面之間的間隙，判斷垂直度是否符合要求。

4. 尺寸校準：對于有尺寸精度要求的大理石平臺，可使用量具如卡尺、千分尺等，測量平臺的邊長、孔徑等尺寸，與設計尺寸進行對比，確定尺寸偏差。

校準結果處理

1. 數(shù)據(jù)記錄：詳細記錄校準過程中的各項測量數(shù)據(jù)、環(huán)境條件、測量位置等信息。

2. 結果判定：將測量結果與相應的精度標準進行對比，如GB/T 20428-2006中規(guī)定的0級、1級、2級和3級精度標準。若各項指標均在允許范圍內(nèi)，則校準合格；否則為不合格。

3. 證書出具：校準合格的大理石平臺，出具校準證書，注明校準日期、有效期、校準結果等信息；不合格的平臺，應注明不合格項目和偏差情況。

校準周期

根據(jù)使用頻率和環(huán)境條件，建議每半年到一年進行一次校準。若使用頻繁或工作環(huán)境較差，可適當縮短校準周期。