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高分辨納米粒度儀是一種用于測量納米顆粒大小和分布的精密儀器，主要基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)。當(dāng)激光照射到納米顆粒懸浮液時(shí)，顆粒會(huì)使散射光產(chǎn)生多普勒頻移，通過檢測這種頻移，可以計(jì)算出顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，進(jìn)而利用相關(guān)公式得出顆粒的粒徑大小。通常采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件。高速數(shù)字相關(guān)器能夠快速、準(zhǔn)確地處理散射光信號，而高性能光電倍增管則負(fù)責(zé)將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，以便后續(xù)的分析處理。
高分辨納米粒度儀的使用注意事項(xiàng)：
-確保實(shí)驗(yàn)室內(nèi)無塵、干燥、溫度穩(wěn)定，避免陽光直射和強(qiáng)烈氣流影響。
-儀器應(yīng)放置在平穩(wěn)的工作臺(tái)上，避免振動(dòng)和沖擊。
-樣品必須充分分散，避免團(tuán)聚現(xiàn)象。
-樣品濃度應(yīng)適中，過高或過低都會(huì)影響測量結(jié)果。
-對于含有機(jī)溶劑的樣品，應(yīng)選擇石英樣品池，并在測量后及時(shí)清洗。
-嚴(yán)禁使用強(qiáng)腐蝕性溶劑，以免損壞儀器。
-放入樣品測量池前，請確認(rèn)池表面無液體殘留。
-測量溫度設(shè)置不得超過50℃。
-禁止使用含有機(jī)溶劑樣品進(jìn)行Zeta電位的測量。
-定期對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù)，確保測量精度和穩(wěn)定性。
-及時(shí)更換磨損的部件和耗材，如光源、濾光片等。
-長期不使用時(shí)，應(yīng)將儀器存放在干燥、陰涼的地方，并定期通電檢查。
隨著科技的不斷進(jìn)步，高分辨納米粒度儀的性能不斷提升，功能也更加多樣化。一方面，儀器的分辨率和精度不斷提高，能夠滿足更高要求的研究需求；另一方面，與其他技術(shù)的聯(lián)用也越來越普遍，如與拉曼光譜、紅外光譜等技術(shù)的聯(lián)用，可以同時(shí)獲取納米顆粒的多種物理化學(xué)信息。
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