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FISCHERSCOPE X-RAY XDL：高性能能量色散 X 射線測量系統(tǒng)
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 是一款具備廣泛適用性的能量色散 X 射線測量儀器，其核心優(yōu)勢在于對無損厚度測量、薄涂層分析、大批量零件檢測及印刷電路板（PCB）測量等場景的精準適配，同時也可用于溶液成分分析。該系列儀器在質(zhì)量保證、進料檢驗與生產(chǎn)過程控制領(lǐng)域表現(xiàn)很好越，典型應(yīng)用場景涵蓋：
電鍍批量生產(chǎn)部件的高精度厚度檢測；
裝飾性鍍鉻等薄涂層的微觀結(jié)構(gòu)與厚度分析；
電子及半導(dǎo)體行業(yè)功能性涂層的成分與性能評估；
印刷電路板（PCB） 的自動化批量測量；
電鍍工藝中溶液成分的快速分析。
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