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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心測量技術(shù)
菲希爾代理測量原理
運(yùn)用 X 射線熒光光譜法，實(shí)現(xiàn)對鍍層厚度的精準(zhǔn)測量。設(shè)備通過 X 射線源發(fā)射初級射線激發(fā)樣品，使元素原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生特征 X 射線熒光。探測器精準(zhǔn)捕獲熒光的能量與強(qiáng)度數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)對元素成分、鍍層厚度的定量分析。
測量方式
無損檢測，具備自動聚焦功能，保障樣品完整性與測量準(zhǔn)確性。在測量過程中不會對樣品造成任何物理損傷，可對樣品進(jìn)行多次重復(fù)測量 。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230元素測量范圍
涵蓋 Cl（17） - U（92），最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。能夠滿足復(fù)雜多層膜體系以及多種元素成分分析的檢測需求，無論是常見金屬元素還是一些稀有元素的鍍層檢測都能勝任。
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