菲希爾 X 射線測厚儀 XDL 系列：型號與特點解析

菲希爾 X 射線測厚儀 XDL 系列是應用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀。該系列包含多種型號，各有特色，能滿足不同用戶的測量需求。

XDL 210 型配備固定式工作臺和固定位置的 Z 軸系統(tǒng)，結構簡單，成本較低。適用于樣品測量位置相對固定的場景，如小型實驗室對常規(guī)樣品的初步檢測。它運用 X 射線熒光光譜法，通過自動聚焦功能可精準測量鍍層厚度，元素測量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。

XDL 220 型同樣是固定式工作臺，但采用了馬達驅動的 Z 軸系統(tǒng)，測量高度調節(jié)更便捷、精準。適合五金加工企業(yè)等需要頻繁調整測量高度且對精度有一定要求的場景，可用于不同規(guī)格零部件的鍍層測量。

XDL 230 型配備可手動操控的 X/Y 工作臺和馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。樣品在平面方向的定位更加靈活，能滿足復雜形狀樣品的多角度測量需求，常用于電子元器件、精密模具等對測量位置要求較高的產品檢測。它還可通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸實現自動化的批量測試，長期穩(wěn)定性良好，無需經常校準。

XDL 240 型是系列中的高級型號，擁有馬達驅動的 X/Y 工作臺，保護門開啟時工作臺自動移到放置樣品的位置，操作便利性與安全性大幅提升。搭配馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)，實現了自動化、智能化的測量流程，適用于大規(guī)模生產企業(yè)的在線檢測，以及對測量效率和自動化程度要求高的科研機構。