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膜厚儀，又叫膜厚計、膜厚測試儀，分為磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。 采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度，也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
CM-8826 膜厚儀 技術(shù)參數(shù)：
功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度
測量方法：F 磁感應 NF 渦流
測量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um
分辨率：0.1/1
zui小測量面積：6mm
zui薄基底：0.3mm
自動關(guān)機
使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
準確度：±（1～3%n）或±2um
公制/英制：可選擇
電源：4節(jié)7號電池
電池電壓指示：低電壓提示
外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含電池）
測量范圍可選：0-200um to15000um
CM-8826 膜厚儀 技術(shù)參數(shù)：
功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度
測量方法：F 磁感應 NF 渦流
測量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um
分辨率：0.1/1
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zui薄基底：0.3mm
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