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天恒科儀 射頻微波測(cè)試系統(tǒng):核心優(yōu)勢(shì)全景剖析

來源:天恒科儀(蘇州)光電有限技術(shù)公司   2025年07月23日 11:45  

在半導(dǎo)體、材料及高頻器件研發(fā)領(lǐng)域,精準(zhǔn)可靠的測(cè)試系統(tǒng)是科研突破的關(guān)鍵支撐。我們的射頻微波測(cè)試系統(tǒng),集成探針臺(tái)、溫控模塊、電氣儀表及智能軟件四大核心模塊,為科研人員提供全棧式測(cè)試能力

天恒科儀 射頻微波測(cè)試系統(tǒng):核心優(yōu)勢(shì)全景剖析

天恒科儀-射頻微波測(cè)試系統(tǒng)

高頻全場景覆蓋

  • 支持6/8/12英寸晶圓及高頻探針靈活配置(DC/脈沖/大電流/微波探針)

  • 兼容Banana/SMA/TRAX/HV-TRAX等接口,適配各類射頻芯片測(cè)試環(huán)境

微米級(jí)精度控制

  • XYZ軸運(yùn)動(dòng)精度1μm(XY行程8×9英寸,Z軸行程0-10mm)

  • 探針平臺(tái)雙模操控:快速行程(0/0.3/3.0mm自動(dòng)鎖定+ 微調(diào)行程(±25mm, 1μm精度)

  • 0.5μm光學(xué)分辨率 + 200萬像素工業(yè)相機(jī),實(shí)現(xiàn)微波器件焊點(diǎn)精準(zhǔn)定位

智能溫控與參數(shù)分析

  • 高溫卡盤RT~400°C(分辨率0.1°C,穩(wěn)定性±0.1°C)

  • 軟件實(shí)時(shí)繪制S參數(shù)曲線、噪聲系數(shù)、增益相位等射頻關(guān)鍵指標(biāo)


詳細(xì)參數(shù)解析

一、多功能探針臺(tái)系統(tǒng)

平臺(tái)兼容性:

  • 支持6/8/12英寸晶圓或芯片測(cè)試

精密運(yùn)動(dòng)控制:

  • XY軸平面無隙驅(qū)動(dòng),行程8×9英寸,定位精度±1μm。

  • Z軸微調(diào)行程0-10mm,精度±1μm

  • 探針平臺(tái)雙重調(diào)節(jié)(快速行程0-3mm/微調(diào)±25mm)

  • 智能視覺定位:

  • 0.5μm光學(xué)分辨率 + 200萬像素工業(yè)相機(jī)

  • 集成尺寸測(cè)量軟件,支持圖像/視頻記錄

  • 探針兼容性:支持光學(xué)、大電流、高頻探針

  • 接口擴(kuò)展:兼容Cascade、GSG、TRL等主流測(cè)試接口


二、高溫卡盤模塊

溫控性能:

  • 范圍:室溫至400℃

  • 分辨率:0.1℃

  • 穩(wěn)定性:±0.1℃

  • 高壓支持:±100V至±5000V多檔位電壓輸出


三、高精度V/I/C測(cè)試儀表

電氣參數(shù)覆蓋:

  • 電壓:±1500V/±3000V/±5000V/±100V

  • 電流:±500A/±1500A

  • 分辨率:電壓200μV,電流10μA(注:原文電流分辨率存疑)

  • 頻響范圍:1kHz-5MHz

  • 掃描功能:支持參數(shù)步進(jìn)、循環(huán)測(cè)試、延時(shí)觸發(fā)

四、 智能測(cè)試軟件

核心功能:

  • IV/CV/TV特性曲線實(shí)時(shí)繪制

  • 掃描模式自定義(步長/延遲/循環(huán)次數(shù))

  • 過壓過流保護(hù)機(jī)制

  • 手動(dòng)/自動(dòng)測(cè)量模式切換

  • 通信接口:GPIB/RS-232/USB/LAN多協(xié)議支持


天恒科儀 射頻微波測(cè)試系統(tǒng):核心優(yōu)勢(shì)全景剖析

詳細(xì)參數(shù)

選型指南


天恒科儀 射頻微波測(cè)試系統(tǒng):核心優(yōu)勢(shì)全景剖析

射頻微波測(cè)試系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域

天恒科儀 射頻微波測(cè)試系統(tǒng):核心優(yōu)勢(shì)全景剖析


5G/6G通信芯片:

毫米波頻段(24-43GHz)功率放大器(PA)、開關(guān)(Switch)晶圓級(jí)測(cè)試

相控陣天線(AIP)單元S參數(shù)驗(yàn)證

雷達(dá)與衛(wèi)星系統(tǒng):

車載雷達(dá)77GHz MMIC、衛(wèi)星Ka波段LNA特性分析

高溫環(huán)境下(125°C+)器件可靠性測(cè)試

第三代半導(dǎo)體驗(yàn)證:

GaN HEMT、SiC MOSFET高頻開關(guān)損耗、柵極電荷(Qg)測(cè)試

負(fù)載牽引(Load Pull)系統(tǒng)集成能力(需擴(kuò)展配置)

射頻前端模組(FEM):

濾波器(Filter)、雙工器(Duplexer)插損/隔離度批量測(cè)試

多端口S參數(shù)掃描(支持4端口以上拓?fù)洌?/span>

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