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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應用領域有：
• 分析小于 的超薄鍍層
• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測定復雜的多鍍層系統(tǒng)
• 全自動測量，如在質(zhì)量控制領域
• 分析焊錫中鉛含量
• 配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量
設計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達驅(qū)動的可更換的準直器和基本濾片
視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。
測量方向：從上到下。
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