從原理到實踐:推拉力測試機(jī)如何檢測鍵合線界面剝離與機(jī)械斷裂失效
隨著集成電路封裝技術(shù)向高密度、高性能方向發(fā)展,鍵合線的可靠性問題日益成為影響封裝質(zhì)量的關(guān)鍵因素。銀線、銅線以及各類合金鍵合線因其優(yōu)異的導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性和成本優(yōu)勢,在IC封裝領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
然而,這些鍵合線在熱機(jī)械應(yīng)力、電遷移等作用下可能出現(xiàn)斷裂、剝離等失效現(xiàn)象,直接影響器件的長期可靠性。本文科準(zhǔn)測控小編將詳細(xì)介紹鍵合線失效分析的原理、測試標(biāo)準(zhǔn)、儀器特點及完整測試流程,助力企業(yè)解決封裝可靠性難題。
一、鍵合線失效分析原理
鍵合線失效機(jī)理主要涉及以下幾種模式:
機(jī)械斷裂失效:鍵合線在循環(huán)應(yīng)力作用下產(chǎn)生疲勞裂紋并最終斷裂
界面剝離失效:鍵合線與焊盤間的金屬間化合物(IMC)層生長導(dǎo)致結(jié)合強(qiáng)度下降
頸縮斷裂失效:鍵合線在高溫下發(fā)生蠕變導(dǎo)致局部截面縮小而斷裂
腐蝕失效:環(huán)境因素導(dǎo)致鍵合線表面腐蝕而強(qiáng)度降低
推拉力測試通過模擬這些失效模式,定量評估鍵合線的機(jī)械可靠性。測試基本原理是:
鍵合強(qiáng)度 = 最大破壞力 / 鍵合接觸面積
二、測試標(biāo)準(zhǔn)
三、檢測設(shè)備
1、Alpha W260推拉力測試機(jī)
Alpha W260推拉力測試機(jī)是專為微電子封裝可靠性測試設(shè)計的高精度設(shè)備,特別適合紅外探測器芯片的測試需求:
1、設(shè)備特點
高精度:全量程采用自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。
操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數(shù)據(jù)輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。
2、多功能測試能力
支持拉力/剪切/推力測試
模塊化設(shè)計靈活配置
3、智能化操作
自動數(shù)據(jù)采集
SPC統(tǒng)計分析
一鍵報告生成
4、安全可靠設(shè)計
獨立安全限位
自動模組識別
防誤撞保護(hù)
5、夾具系統(tǒng)
多種規(guī)格的剪切工具(適用于不同尺寸焊球)
鉤型拉力夾具
定制化夾具解決方案
四、測試流程
步驟一、樣品準(zhǔn)備
按標(biāo)準(zhǔn)要求取樣(通?!?0個鍵合點)
清潔樣品表面污染物
定位標(biāo)記待測鍵合點
步驟二、測試程序
剪切測試模式:
選擇合適剪切工具(通常為50μm刀口)
設(shè)置剪切高度(鍵合點高度+5μm)
以100-500μm/s速度推進(jìn)至鍵合點破壞
步驟三、拉力測試模式
安裝匹配的拉力鉤具鉤住鍵合線弧頂
以0.1-10mm/min速度垂直拉伸至斷裂
步驟四、數(shù)據(jù)分析
原始數(shù)據(jù)篩選(剔除異常值)
Weibull分布分析
失效模式分類:
界面失效(低強(qiáng)度值)
線材斷裂(中等強(qiáng)度)
基板破壞(高強(qiáng)度值)
步驟五、報告生成
測試條件記錄(溫濕度、設(shè)備參數(shù)等)
統(tǒng)計結(jié)果(均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK等)
失效模式比例分析
改進(jìn)建議
五、典型失效案例分析
案例1:銅鍵合線高溫存儲后強(qiáng)度下降
現(xiàn)象:150℃/1000h后拉力值降低30%
分析:IMC層過度生長導(dǎo)致脆性斷裂
對策:優(yōu)化退火工藝,控制IMC厚度<2μm
案例2:合金鍵合線批量剪切失效
現(xiàn)象:剪切強(qiáng)度離散度大(CPK<1.0)
分析:焊盤污染導(dǎo)致界面結(jié)合不良
對策:加強(qiáng)前清洗工藝,增加等離子處理
以上就是小編介紹的有關(guān)于IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析的相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?。如果您還對IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析方法、測試報告和測試項目,推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻,焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言?!究茰?zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。
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