

吳 瑾
珠海歐美克儀器有限公司應(yīng)用經(jīng)理。主要負(fù)責(zé)粒度檢測(cè)技術(shù)產(chǎn)品的應(yīng)用和技術(shù)支持工作。對(duì)于粒度粒形表征基礎(chǔ)理論、測(cè)量原理和應(yīng)用技術(shù)積累了豐富、深入的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),能夠從粉體質(zhì)量和行業(yè)要求等多個(gè)維度來(lái)分析顆粒檢測(cè)與表征,為客戶提供科學(xué)、獨(dú)到的解決方案。
納米炭黑作為一種非常重要的功能材料已在橡膠、塑料行業(yè)得到廣泛應(yīng)用,其粒徑和粒徑分布直接影響產(chǎn)品的工藝性能和使用性能。目前,表征炭黑粒度的方法很多,比如篩分法、電鏡法、沉降法、激光法等。
篩分法設(shè)備簡(jiǎn)單,結(jié)果直觀,但篩孔尺寸會(huì)隨使用時(shí)間和使用頻率而變化,即便篩網(wǎng)定期會(huì)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn),但要克服尺寸的這種變化較為困難。但該法測(cè)試樣品量大,代表性強(qiáng),在炭黑行業(yè)仍作為炭黑出廠指標(biāo)在產(chǎn)品合格證中列示。電鏡法分辨率高,結(jié)果直觀,容易得到一次粒徑結(jié)果,但由于炭黑是不易分散的團(tuán)聚體,得到的粒徑分析結(jié)果難以代表樣品在實(shí)際應(yīng)用時(shí)的分散程度及粒度分布狀態(tài),也無(wú)法指導(dǎo)納米級(jí)炭黑發(fā)揮其應(yīng)有的性能優(yōu)勢(shì)。此時(shí),用離心沉降法、激光衍射分析法測(cè)得的包含有二次粒徑信息的粒度分布數(shù)據(jù)就更具有實(shí)際指導(dǎo)意義。
圓盤式離心沉降法測(cè)量炭黑的尺寸分布是經(jīng)典的炭黑粒徑分布測(cè)試方法,有ISO標(biāo)準(zhǔn)可供使用,但其測(cè)量超細(xì)顆粒粒度及其粒度分布還存在測(cè)量時(shí)間過(guò)長(zhǎng)以及數(shù)據(jù)處理方法復(fù)雜等缺點(diǎn)。激光粒度儀測(cè)試速度快、動(dòng)態(tài)范圍寬,結(jié)果信息量大、重現(xiàn)性好,測(cè)試炭黑的粒度及粒度分布有其自身的顯著優(yōu)勢(shì)。
對(duì)于難分散的樣品,制樣方法、測(cè)試條件不同,結(jié)果會(huì)有差異。模擬該樣品在實(shí)際應(yīng)用中的顆粒分散程度,本文初步設(shè)計(jì)了3種分散制樣方法,對(duì)同一種炭黑的粒度測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比淺析。
實(shí)驗(yàn)部分
OMEC
主要樣品和材料
炭黑N234,丙酮、無(wú)水乙醇(分析純),去離子水
▲ 圖片來(lái)源網(wǎng)絡(luò)
主要設(shè)備和儀器
Topsizer Plus激光粒度分析儀(適配循環(huán)進(jìn)樣系統(tǒng)SCF-108和SCF-126B)以及PIP8.1顆粒圖像處理儀。
▲ 歐美克Topsizer Plus 激光粒度分析儀
(點(diǎn)擊圖片查看儀器詳情介紹)
▲ 歐美克PIP8.1顆粒圖像處理儀
(點(diǎn)擊圖片查看儀器詳情介紹)
以上儀器均為珠海歐美克儀器公司生產(chǎn);
Quanta 250 FEG場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡,美國(guó)FEI公司生產(chǎn);信儀JY96-II超聲波細(xì)胞粉碎機(jī)。
樣品制備測(cè)試方案
A法分段超聲:稱取樣品,加入微量乙醇浸潤(rùn)樣品,水浴超聲3min;緩慢加入曲拉通溶液,探頭式超聲分散10min;靜置恢復(fù)室溫后取上層液,再次水浴超聲3min,靜置至室溫。
B法丙酮分散:取適量樣品,加入丙酮,攪拌,采用探頭式超聲分散15min。
C法乙醇分散:取適量樣品,加入無(wú)水乙醇,攪拌,采用探頭式超聲分散15min。
結(jié)果與討論
OMEC
不同分散方法對(duì)炭黑樣品進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果如表1和圖1-圖3所示。
▲ 表1 不同分散方法的結(jié)果對(duì)比
▲ 圖1 分段超聲法粒度分布圖
▲ 圖2 丙酮分散的粒度分布圖
▲ 圖3 乙醇分散的粒度分布圖
可以看出,C法的整體分散效果要更好。這是否符合實(shí)際情況呢?我們進(jìn)一步結(jié)合電鏡和顯微鏡的檢測(cè)結(jié)果來(lái)綜合分析,如圖4-6所示。
▲ 圖4 乙醇分散炭黑顯微圖像
▲ 圖5 乙醇分散炭黑電鏡圖像
▲ 圖6 乙醇分散炭黑樣品電鏡下的高倍圖像
對(duì)于納米級(jí)的炭黑顆粒,由于顆粒非常小,顆粒的表面能很大,細(xì)小的炭黑顆粒之間容易由于相互作用力而結(jié)合在一起,導(dǎo)致顆粒之間發(fā)生團(tuán)聚,形成更大的二次粒徑。通常我們把單個(gè)的細(xì)小炭黑顆粒的粒徑叫做炭黑的一次粒徑,也叫原生粒徑,而把發(fā)生團(tuán)聚后形成的二次炭黑顆粒粒徑叫做炭黑的二次粒徑,呈現(xiàn)的形態(tài)稱為炭黑的聚集體。由于電鏡的分辨率極高,可以觀測(cè)到炭黑的一次粒徑。
從電鏡結(jié)果可以看出,樣品的一次粒徑大多在30-40nm,少部分在20nm,極少部分在100nm(圖8),當(dāng)然也有捕抓到粒徑大于1微米的粒子(圖7)。從圖6中同樣可見(jiàn)少量粒徑大于1μm的粒子均勻散落在顯微圖像中。
綜上,采用C法分散制備的納米炭黑樣品,激光粒度儀、電鏡和顆粒顯微圖像檢測(cè)結(jié)果一致性較好;聚集顆粒得到了最大程度的分散,該粒度分布中包含了主要的一次粒徑信息,也有極少量二次粒徑的信息。如下:
采用C法,兩次取樣的各4條記錄的統(tǒng)計(jì)結(jié)果如下:
可見(jiàn)結(jié)果重復(fù)性、再現(xiàn)性好,分散方法穩(wěn)健,測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定。
結(jié)論
OMEC
用Topsizer Plus激光粒度儀測(cè)試炭黑的粒徑分布,得到的是炭黑包含有二次粒徑信息的粒度分布,能代表炭黑在實(shí)際應(yīng)用中的顆粒分散狀態(tài)。激光衍射法表征炭黑粒度及粒度分布對(duì)相關(guān)研究及實(shí)際應(yīng)用都具有重要的意義。
方式1:
撥打售前熱線:、
(掃描下方二維碼,關(guān)注“珠海歐美克儀器”微信公眾號(hào),在輸入框輸入“銷售”,直接撥打熱線)
方式2:
掃描下方二維碼,關(guān)注“珠海歐美克儀器”微信公眾號(hào),在輸入框輸入您的聯(lián)系方式和地區(qū),將有地區(qū)銷售與您直接聯(lián)系。
點(diǎn)擊【閱讀原文】
了解更多顆粒測(cè)量產(chǎn)品資訊
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。