四探針儀器和探頭、測試臺特點與選型參考

來源：北京綠野創(chuàng)能機電設備有限公司 2012年10月16日 15:48

測試儀器的選擇：

M-2型是手持式，可充電電池供電，適合變動場合操作！儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；

ST2258A多功能數(shù)字式四探針測試儀是小型化全自動量程，并帶自動分選材料功能，特別適合半導體材料或低電阻器件生產(chǎn)線上批量材料檢測和分選；

ST2253數(shù)字式四探針測試儀是帶PC機軟件，可在PC機上顯示，分析，保存，打印數(shù)據(jù)！特適合實驗室，品管部門做分析研究用！

測試探頭的選擇：

尖頭鎢針探頭（ST2253-F01型）適合測試單晶硅等硬質(zhì)半導體樣品材料

球形鍍金合金探頭（ST2258B-F01型）適合測試柔性涂層或薄膜類樣品材料！

測試臺的選擇：

SZT-A型手動測試臺，對樣片的測試壓力可由手動自由控制，結(jié)構(gòu)小巧，簡便快捷，

SZT-B型電動測試臺（手/自一體化），自動檔，測試壓力適中恒定，特別適用于初次接觸此類儀器，對測試壓力難以手工掌握，易損壞樣品的場合。也可手動檔自由調(diào)節(jié)測試壓力！

SZT-C 快速恒壓測試臺，SZT-A型手動測試臺改進型，對樣片的測試壓力可由手動自由調(diào)節(jié)后并恒定，結(jié)構(gòu)小巧，簡便快捷，

SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺,集測試臺和探頭與一體，

SZT-E型半導體材料四端子測試臺,集測試臺和探頭與一體，

SZT-F型太陽能電池片方阻測試臺，遮光測試，簡便快捷！

文章來源：北京綠野創(chuàng)能機電設備有限公司

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