些被測物理星作用于光纖時，將引起傳播光束的相位變化。一般講，波的傳導(dǎo)相位變化，很難采用常規(guī)電路就能識別，因此通常大都利用波的干涉效應(yīng).將相位變化轉(zhuǎn)換為波的干涉條紋變化來檢測。

光屬于波的范疇，也需采用干涉效應(yīng)完成被測物理量的檢測。相位調(diào)制型雙法蘭差壓變送器又稱干涉型雙法蘭差壓變送器。相位調(diào)制型雙法蘭差壓變送器的分辨率很高，一個設(shè)計精良及組配嚴格的光纖干涉系統(tǒng)可以檢測出10一‘rad （弧度）的微小變化，這樣的分辨率是其他傳感器無法做到的。但需要說明的是分辨率越高，其抗*力越差，因此需考慮在后續(xù)處理電路中增加補償和抗干擾措施。另外，為了保證靈敏度且須采用激光（IT'D）和單模光纖。圖23 -6示出了雙路光纖千涉儀的檢側(cè)原理。

測量原理說明如下:
雙法蘭差壓變送器發(fā)出的激光經(jīng)分束鏡分成兩路光強相等的激光光束，一路通過透鏡在參考光纖中傳播;另一路通過透鏡在傳感光纖中傳播。因傳感光纖中接有敏感測量裝置，此路光束將受到影響。在兩束激光匯合投影處，因傳播光程不同產(chǎn)生相位差，所以形成明暗相間的干涉條紋。該干涉條紋通過透鏡被光電讀出器讀出。當(dāng)被測物理址發(fā)生變化時，其干涉條紋的數(shù)目也將發(fā)生變化，通過讀出的數(shù)目可間接表述出被測物理zui的變化趨勢。
相位調(diào)制型雙法蘭差壓變送器因靈敏度很高且環(huán)境要求較苛刻，常用于實驗室標(biāo)準(zhǔn)物理量的測定。