1.磁性法
當測頭與覆層接觸時,測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆層的存在,使磁路磁阻發(fā)生變化,通過測量其變化量,可測得其覆層的厚度。
2.渦流法
利用高頻交變電流線圈中產生一磁場,當測頭與金屬接觸時,金屬基體上會產生渦流,并對測頭具有反饋作用,通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。
當測頭與覆層接觸時,測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆層的存在,使磁路磁阻發(fā)生變化,通過測量其變化量,可測得其覆層的厚度。
2.渦流法
利用高頻交變電流線圈中產生一磁場,當測頭與金屬接觸時,金屬基體上會產生渦流,并對測頭具有反饋作用,通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。
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