涂層測(cè)厚儀可以選擇三種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和系統(tǒng)校準(zhǔn)。在一般情況下直接測(cè)量即可。當(dāng)儀器基體與被測(cè)件基體的磁性或者表面粗糙度差別較大時(shí)，可以選擇零點(diǎn)校準(zhǔn)或者系統(tǒng)校準(zhǔn)以保證測(cè)量度。

（1） 零點(diǎn)校準(zhǔn)

儀器標(biāo)準(zhǔn)基體的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體的磁性和表面粗糙度相似。如果兩者差別較大，可以在測(cè)量測(cè)試件之前*行零點(diǎn)校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)方法：在校準(zhǔn)菜單中選擇“零點(diǎn)校準(zhǔn)”選項(xiàng)，儀器屏幕出現(xiàn)閃爍字體“基體”，此時(shí)將探頭垂直的放在被測(cè)試件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量?jī)纱危殡S著兩聲蜂鳴聲屏幕提示“校準(zhǔn)完成”，即可完成基體的零點(diǎn)校準(zhǔn)。如果沒(méi)發(fā)出兩聲蜂鳴說(shuō)明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。

（2） 兩點(diǎn)校準(zhǔn)

在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別點(diǎn)的測(cè)量值偏差較大可以通過(guò)兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。

校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片，先對(duì)該樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過(guò)""、""鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住""、""鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止，此時(shí)校準(zhǔn)即完成，校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。

（3） 系統(tǒng)校準(zhǔn)

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過(guò)技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。

系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程：在校準(zhǔn)菜單中選擇“系統(tǒng)校準(zhǔn)”選項(xiàng)，按“ENTER”鍵后，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)后首先顯示"基體"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量?jī)纱魏笕绻麥y(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕首先顯示出廠時(shí)提供的*個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和隨機(jī)配置的樣片值大小不符，可以通過(guò)""、""鍵來(lái)進(jìn)行加1或減1操作。按住""或""鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量?jī)纱螣o(wú)誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴，說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

    當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕提示“校準(zhǔn)已完成”，然后儀器進(jìn)入測(cè)量界面。儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間需要有一定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的基體必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。