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GB/T2423電子電工產品試驗標準詳細介紹

來源:武漢安德信檢測設備有限公司   2013年10月08日 14:36  

                                       GB/T2423電子電工產品試驗標準詳細介紹

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗搜索 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 
HG/T 2423-2008 工業(yè)對苯二甲酸二辛酯 (單行本完整清晰掃描版) 
GB/T 2423.39-2008 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ee:彈跳 
GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Ed自由跌落
GB/T 2423.32-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ta 潤濕稱量法可焊性
GB 2423.25-1992 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM低溫-低氣壓綜合試驗.
GBT 2423.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分  試驗方法 試驗Sa  模擬地面上的太陽輻射
GB 2423.11-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fd 寬頻帶隨機振動 一般要求
GBT 2423.57-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ei 沖擊 沖擊響應譜合成.pdf 24000KB
GB/T 2423.102-2008 電子電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合
GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:傾斜和搖擺
GB/T 2423.58-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2-80部分 試驗方法 試驗Fi 振動 混合模式
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán)) 
GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 (單行本完整清晰掃描版) 
GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ga和導則 穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc:振動(正弦) 
QB/T 2423-1998 聚氯乙烯(PVC)電氣絕緣壓敏膠粘帶
GB/T 2423.9-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cb 設備用恒定濕熱
GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗77:結構強度與撞擊
GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗 
GB/T 2423.53-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Xb 由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損 
GB/T 2423.38-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則
GB/T 2423.36-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Z/BFc: 散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 
GB/T 2423.35-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/Afc: 散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 
GB/T 2423.33-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Kca高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗T:錫焊
GB/T 2423.27-2005電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分: 試驗方法 試驗Z/AMD: 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗n: 溫度變化 
GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則: 碰撞 
GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 
GB/T 2423.4-1993電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.30-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗xa和導則:在清洗劑中浸漬 
GB/T 2423.16-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗j和導則:長霉
GB/T 2423.56-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導則
GB/T 2423.55-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Eh錘擊試驗
GB/T 2423.55-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eh:錘擊試驗 
GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗方法
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 
GB/T 2423.2-2001電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗B高溫
GB/T 2423.10-1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部 
SJ 2423-83  船用導航雷達設備用圖形符號
JB/T 2423-1999  電力半導體器件 型號編制方法
HG/T 2423-1993 對苯二甲酸二辛酯 162KB
GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分 : 試驗方法 試驗 B: 高溫
GB/T 2423.1-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分 : 試驗方法 試驗 A: 低溫
GB/T 2423.46-1997電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ef撞擊 擺錘 
GB/T 2423.3-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Ca :恒定濕熱試驗方法 
GB/T 2423.30-1999電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗XA和導則 在清洗劑中浸漬 
GB/T 2423.29-1999電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗U引出端及整體安裝件強度 
GB/T 2423.37-1989  電工電子產品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L 砂塵試驗方法
GB 2423.9-89 試驗Cb設備用恒定濕熱試驗方法 

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