GB/T 5170的高低溫試驗箱標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備檢驗所用術(shù)語和定義、檢驗條件、檢驗儀器、檢驗周期、檢驗負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗記錄表、檢驗結(jié)果處理等要求，可適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗設(shè)備所用的檢驗，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗亦可參照使用。

　　適用于標(biāo)準(zhǔn)總則部分的術(shù)語和定義如下：

　　環(huán)境條件(environmental condition):產(chǎn)品所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件;

　　環(huán)境參數(shù)(environmental parameters):表示環(huán)境條件的一個或幾個物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù);

　　綜合試驗設(shè)備(combined testing equipments)：能同時模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的高低溫試驗箱;

　　組合試驗設(shè)備(commpsite testing equipments):能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的設(shè)備;

　　標(biāo)稱值(nominal value):當(dāng)檢驗環(huán)境試驗設(shè)備時，按試驗方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值;

　　特定負(fù)載(specified load)：利用試驗設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗的樣品;

　　模擬負(fù)載(simulation load):根據(jù)試驗標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定制造的負(fù)載(注：應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素);

　　高低溫試驗箱檢驗方法總則

如有疑問： 135 9430 9859 秦