在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量t曠時(shí)，特別是在110kV及以上的變電所進(jìn)行直流高壓發(fā)生器測(cè)量時(shí)，被試品和橋體往往處在周?chē)鷰щ姴糠值碾妶?chǎng)作用范圍之內(nèi)，雖然電橋本體及連接線(xiàn)都采用了前面所述的屏蔽，但對(duì)被試品通常無(wú)法做到全部屏蔽。這時(shí)等值干擾電源電壓U'就會(huì)通過(guò)與被試品高壓電極間的雜散電容C‘產(chǎn)生干擾電流I'，因而影響測(cè)量的準(zhǔn)確度。
當(dāng)電橋平衡時(shí)，流過(guò)檢流計(jì)的電流IG=0，此時(shí)檢流計(jì)支路可看作開(kāi)路，干擾電流I'在通過(guò)C'以后分成兩路，一路經(jīng)CX人地，另一路經(jīng)R。及試驗(yàn)變壓器的漏抗入地，由于前者的阻抗遠(yuǎn)大于后者，故可以認(rèn)為廠(chǎng)實(shí)際上全部流過(guò)R3.
在沒(méi)有外電場(chǎng)干擾的情況下，電橋平衡時(shí)流過(guò)R,的電流即為流過(guò)被試品的電流Ix，相應(yīng)的介質(zhì)損耗角為8。有干擾時(shí)，由于干擾電流流過(guò)R,，改變了電橋的平衡條件，這時(shí)要電橋平衡就必須把R3和C4調(diào)整到新的數(shù)值。由于C4值的改變，測(cè)得的損耗角6.‘已不同于沒(méi)有干擾時(shí)的實(shí)際損耗角S二了，因此對(duì)流過(guò)R,的電流已變成扎，即相當(dāng)于在I二上疊加一個(gè)干擾電流一I',扎與IN的夾角就是戰(zhàn)。同時(shí)R:值的改變也引起了測(cè)得的C:值改變。I‘引起t勸和Cx測(cè)量值的變化將隨I,的數(shù)值和相位而定。在干擾源固定時(shí)，I'的相量端點(diǎn)的軌跡為一圓。在某些情況下，當(dāng)干擾結(jié)果使I'的相量端點(diǎn)落在圖2一20所示的陰影部分的圓弧上時(shí)，高壓無(wú)線(xiàn)核相儀值將變?yōu)樨?fù)值，這時(shí)電橋在正常接線(xiàn)下已無(wú)法達(dá)到平衡.只有把C4從橋臂4換接到橋臂3與R3并聯(lián)，才能使電橋平衡，并按照新的平衡條件計(jì)算出直流高壓發(fā)生器值。當(dāng)I'的相量端點(diǎn)落在圖2一20中的A, B點(diǎn)時(shí)，即干擾電流I,與I:同相或反相時(shí)，高壓無(wú)線(xiàn)核相儀值不變，但此時(shí)的I二值變大或變小，將引起測(cè)得的c:值變大或變小。 為了避免干擾，消除或減小由電場(chǎng)干擾所引起的誤差，可采用下列措施。
1.盡量遠(yuǎn)離干擾源
在無(wú)法遠(yuǎn)離干擾源時(shí)，加設(shè)屏蔽，用金屬屏蔽罩或網(wǎng)將被試品與干擾源隔開(kāi)，并將屏蔽罩與電橋的屏蔽相連，以消除C'的影響，但這往往在實(shí)際上不易做到。
2.采用移相電源
可看出，在有干擾的情況下，只要使I'與I:同相或反相，測(cè)得的t曠值不變，干擾電流it的相位一般是無(wú)法改變的，但可以改變電源電壓從而改變I:的相位來(lái)達(dá)到上述目的。應(yīng)用移相電源消除干擾時(shí)，在試驗(yàn)前先將R;短接，將R3調(diào)到zui大值，使干擾電流盡量通過(guò)檢流計(jì)(因其內(nèi)阻很小)，并調(diào)節(jié)移相電源的相角和電壓幅值，使檢流計(jì)指示達(dá)zui小，這表明1x二與1'相位相反，移相任務(wù)已經(jīng)完成，即可退去電源電壓，保持移相電源相位，拆除R4間的短接線(xiàn)，然后正式開(kāi)始測(cè)量。若在電源電壓正、反相兩種情況下測(cè)得的直流高壓發(fā)生器助值相等，說(shuō)明移相效果良好，此時(shí)測(cè)得的t叻為真實(shí)值。但正、反相兩次所測(cè)得的電流因此，被試品電容的實(shí)際值應(yīng)為正、反相兩次測(cè)得的平均值。用移相法基本上可以消除同頻率的電場(chǎng)干擾所造成的測(cè)量誤差。
3.采用倒相法
倒相法是一種比較簡(jiǎn)便的方法。測(cè)量時(shí)將電源正接和反接各測(cè)一次，得到兩組測(cè)量結(jié)果直流高壓發(fā)生器,、C、和直流高壓發(fā)生器z、Cz，然后進(jìn)行計(jì)算求得直流高壓發(fā)生器值和C二值。
表示被試品電流I二和干擾電流I'的相量圖。在圖中，當(dāng)電源反相時(shí)，實(shí)際上就相當(dāng)于把于擾電流反相變成一才，而其余相量不動(dòng)，故在圖中用反相的I,代替反相的IX，這樣使分析比較方便，而其結(jié)果是一樣的。
即可取兩次測(cè)量結(jié)果的平均值，作為被試品的介質(zhì)損耗角正切值。
在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行高壓無(wú)線(xiàn)核相儀測(cè)量時(shí)，不但受到電場(chǎng)的干擾，還可能受到磁場(chǎng)的干擾。一般情況下，磁場(chǎng)的干擾較小，而且電橋本體都有磁屏蔽，C:及CN的引線(xiàn)雖較長(zhǎng)，但其阻抗較大，感應(yīng)弱時(shí)，不能引起大的干擾電流.但當(dāng)電橋靠近電抗器等漏磁通較大的設(shè)備時(shí)，磁場(chǎng)的干擾較為顯著。通常，這一干擾主要是由于磁場(chǎng)作用下電橋檢流計(jì)內(nèi)的電流線(xiàn)圈回路所引起的?？梢园褭z流計(jì)的極性轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)放在斷開(kāi)位置，此時(shí)如果光帶變寬，即說(shuō)明有此種干擾。為了消除干擾的影響，可設(shè)法將電橋移到磁場(chǎng)干擾范圍以外。若不能做到，則可以改變檢流計(jì)極性開(kāi)關(guān)進(jìn)行兩次測(cè)量，用兩次測(cè)量的平均值作為測(cè)量結(jié)果，以減小磁場(chǎng)干擾的影響。