電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)測(cè)試方法
電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī),電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)滿足電容屏精度、抖動(dòng)性、線性度、靈敏度等指標(biāo)測(cè)試:可以調(diào)用程序內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軌跡,也可以自編測(cè)試軌跡,極大地提高了測(cè)試效率(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試圖形程序已內(nèi)置)
1、精度測(cè)試:
測(cè)試方法:參照下圖所示的區(qū)域?qū)?3個(gè)圓形區(qū)域用接地的標(biāo)準(zhǔn)銅柱(Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm,具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)進(jìn)行觸摸,測(cè)試觸摸要20次以上,每次觸摸100ms,然后抬起500ms。記錄下TP報(bào)出的坐標(biāo),圖2中區(qū)域劃分成4×4,長(zhǎng)寬計(jì)算如圖所示(W-5)/4,青色為非邊緣區(qū)(觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5),藍(lán)色為邊緣區(qū)(觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13)。
判定標(biāo)準(zhǔn):記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm(非邊緣區(qū)),±2mm(邊緣區(qū)),超出結(jié)論為NG,不超出結(jié)論為OK。
2、抖動(dòng)測(cè)試:
測(cè)試方法:參照上面精度測(cè)試中圖所示,對(duì)每個(gè)點(diǎn)用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm,具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)進(jìn)行觸摸,不支放置5S,記錄下坐標(biāo)。
判定標(biāo)準(zhǔn):記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm(非邊緣區(qū)),±1.5mm(邊緣區(qū)),超出結(jié)論為NG,不超出結(jié)論為OK。
3、線性度測(cè)試:
測(cè)試方法:參照下圖中左邊三個(gè)所示的路徑用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm,具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)分別以5mm/S和50mm/S畫(huà)線,記錄下坐標(biāo)的偏離度,其中豎線路徑從左到右分別為豎1到豎5,從上到下為橫1到橫5,從左上角到右下角為左對(duì)角,從右上角到左下角為右對(duì)角。
判定標(biāo)準(zhǔn):坐標(biāo)的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG,不超出的為OK
4、靈敏度測(cè)試:
測(cè)試方法:參照右圖對(duì)TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny,Nx=W/1mm,Ny=H/1mm,按所示的路徑有接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm,具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)以5mm/S畫(huà)線,觀察是否有斷線。
判定標(biāo)準(zhǔn):若有斷線為NG,否則為OK。
5、劃線測(cè)試
測(cè)試方法:參照下圖所示對(duì)TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位,用銅柱(具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)分別以高速1S/點(diǎn),中速1.5S/點(diǎn),低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn),其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘,再接著從頭開(kāi)始,如此反復(fù)4小時(shí),接著以中速進(jìn)行4小時(shí),接著再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀察報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)超出范圍。
判定標(biāo)準(zhǔn):測(cè)試過(guò)程中不應(yīng)有斷線
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