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比表面測(cè)試儀所使用的高純氮?dú)夂透呒兒饧兌纫话銥?9.99%到99.999%，其中0.001%-0.01%的雜質(zhì)氣體（主要為水分等高沸點(diǎn)易吸附氣體）在低溫吸附時(shí)會(huì)首先被吸附,從而對(duì)吸附氮?dú)饬吭斐捎绊憽?/p>
由于色譜法比表面測(cè)試中氣體是連續(xù)流過(guò)待測(cè)樣品，所以樣品表面的水份等氣體雜質(zhì)會(huì)逐漸積累；具體影響見(jiàn)《水份對(duì)吸附過(guò)程的影響》。
冷阱是消除高沸點(diǎn)氣體雜質(zhì)的有效方式，一般在高要求設(shè)備中會(huì)配備此裝置；比表面儀配備的冷阱，使本會(huì)被樣品吸附的水份等高沸點(diǎn)雜質(zhì)提前被冷阱捕獲，使得經(jīng)過(guò)凈化后的高純氮和高純氦氣體中的水分含量低于10-17Pa，達(dá)到超高純氣體狀態(tài)。
比表面積測(cè)定儀
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