新聞稿徠卡DM8000M和 DM12000M北京代理銷售

：李小兵

2010 年 11 月 8 日

適用于半導體行業(yè)的產品系列：
Leica DM8000 M 和 DM12000 M

更寬視野，更快檢測 —— 率的檢驗系統

德，韋茨拉爾 (Wetzlar)。半導體行業(yè)的晶片檢驗、過程控制和缺陷分析都必須快速、及符合人機工程學。徠卡顯微系統有限公司近推出了符合這些要求的系列產品，即：適用于 8 英寸晶體的 Leica DM8000 M 和適用于 12 英寸晶體的 Leica DM12000 M。

宏觀模式下優(yōu)化的視野

Leica DM8000 M 和 DM12000 M 光學檢驗顯微鏡集成的宏觀模式使它們可以提供 4 倍于常規(guī)掃描物鏡的視場。因此，用戶可以對整個掃描區(qū)域進行的缺陷檢測。

LED 照明，工作環(huán)境更清晰

Leica DM8000 M 和 DM12000 M 顯微鏡的 LED 照明集成在它們的支架中。由于沒有附帶燈箱的干擾，顯微鏡四周的氣流環(huán)境。此外，集成在 Leica DM8000 M 和 DM12000 M 顯微鏡中的現代 LED 設備還具有使用壽命長，耗電量低的優(yōu)點，從而令這兩款顯微鏡都更加經濟環(huán)保。LED 設備不僅提供可見光照明，還具備選裝的 i 譜線紫外線照明功能。

各角度的超高分辨率

全新的斜射紫外線模式結合了斜射照明和 i 譜線紫外線照明，從而實現了以 3D 或超高分辨率模式對樣品各個角度進行快速簡易的照明。

舒適的工作環(huán)境，帶來更高的品質

由于舒適工作環(huán)境下的效率更高，從而產品質量也更高，因此控制過程的設計達到了高的人機工程學標準。照明設備全部集成在顯微鏡支架中且便于控制，因此客戶無須將眼睛和手移開顯微鏡即可調節(jié)其它的觀察方法或照明模式。檢驗系統配備立的可調節(jié)抬高模塊和聚焦手柄，從而適合所有用戶使用。它的焦點尋像器、存儲功能、以及內置照明器和相襯管理器使得操作更加簡便，并且避免了錯誤的發(fā)生。

系統集成：*匹配的組件

徠卡顯微系統有限公司提供的 Leica DM8000 M 和 DM12000 M 顯微鏡系統地全套集成了顯微鏡、攝像頭和軟件。該系統還可以進行升級以適應特別檢驗、查看軟件選項、以及連接到若干品牌的晶片載入器上。

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徠卡顯微系統有限公司是創(chuàng)新、高科技度的顯微結構分析光學系統的設計者和商。在其所有業(yè)務域內徠卡顯微系統有限公司都是市場的之一：顯微鏡觀測、具成像系統的共焦激光顯微鏡觀測、標本制備和醫(yī)學設備。公司大范圍系列產品以適應包括需要顯微成像、測量和分析在內的眾多應用。同時還提供生命科學域的系統解決方案，包括生物技術和醫(yī)學、原材料研發(fā)和工業(yè)的質保。公司在 100 多個家設有代表處，在 8 個家設有 13 家廠，在 19 個家設立了銷售和服務機構，并且具有性的代理商網絡。公司管理總部設在德的韋茨拉爾 (Wetzlar)。