測厚儀測量需注意

來源：北京征程創(chuàng)拓科技有限公司 2014年10月30日 16:54

測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測厚儀測量時的注意事項：

1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。

2、測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

Nanocalc系列測厚儀的特點：

1、UV/VIS/NIR高分辨率的配置

2、測量準確度在1nm，精度在0.1nm

3、可測量4層薄膜的任意3層

4、薄膜測量zui小可至10nm，zui大可至400um

5、可測量zui小1nm厚的透明金屬層

6、提供用于復(fù)雜外形材料測量的試驗臺及附件

7、對表面缺陷和光滑度不敏感

8、龐大的材質(zhì)數(shù)據(jù)庫，保證各種材料的測量

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