射線檢測(cè)技術(shù)利用X射線探測(cè)材料內(nèi)部的不連續(xù)性,并在記錄介質(zhì)上顯示出圖像。隨著技術(shù)的不斷,射線檢測(cè)從傳統(tǒng)的以膠片為記錄介質(zhì)的照相方法不斷擴(kuò)展,形成了多種數(shù)字化射線檢測(cè)手段。射線檢測(cè)主要應(yīng)用于金屬、非金屬及其工件的內(nèi)部缺陷的檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果度高、可靠性好。膠片可保存,可追溯性好,易于判定缺陷的性質(zhì)及所處的平面位置。
射線檢測(cè)也有其不足之處,難于判定缺陷在材料、工件內(nèi)部的埋藏深度;對(duì)于垂直于材料、工件表面的線性缺陷(如:垂直裂紋、穿透性氣孔等)易漏判或誤判;同時(shí)射線檢測(cè)需嚴(yán)密保護(hù)措施,以防射線對(duì)人體造成傷害;檢測(cè)設(shè)備復(fù)雜,成本高。
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