SE-2400快速溫度變化試驗箱主要技術(shù)指標(biāo)

一、主要技術(shù)指標(biāo)

工作室尺寸：1400D×1400W×1200H，mm，內(nèi)容積:2400L

溫度范圍：-70℃～+150℃

溫度波動度：≤±0.5℃

溫度均勻度：≤2℃

溫度偏差：±2℃

升溫速率：-55℃～+85℃≥20℃/min（全程平均，連續(xù)可調(diào)，帶載100kg鋁錠），機械制冷

降溫速率：+85℃～-55℃≥20℃/min（全程平均，連續(xù)可調(diào)，帶載100kg鋁錠），機械制冷

濕度范圍：10%～98%RH（溫度范圍+15℃～+85℃）

濕度偏差：≤±3%RH（箱內(nèi)空氣濕度＞75%RH），≤±5%RH（箱內(nèi)空氣濕度≤75%RH）

二、滿足試驗方法

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GBT 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

GBT 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化試驗

GJB150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GJB 4.6-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 交變濕熱試驗

GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

GJB899A-2009 可靠性鑒定和驗收試驗

三、產(chǎn)品制造標(biāo)準

GBT 5170.1-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GBT 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GBT 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

GBT 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件

四、其它相關(guān)配置

機械制冷

外置式電熱蒸汽加濕

VRF變制冷劑流量高精度溫濕度控制系統(tǒng)

干燥空氣置換系統(tǒng)

樣品溫度巡檢