資料簡介
瑞士梅特勒METTLER 電子天平XPR226CDR/AC的特點
每次均可獲得可靠的結(jié)果.XPR分析天平,最大秤量121/220 g,可讀性0.005/0.01 mg,7''電容式彩色觸摸屏,用戶管理,靜電檢測,自動內(nèi)部校正且配有LabX
確保一次性稱量準確
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用,確保滿足正確稱量的所有相關(guān)條件。
StaticDetect靜電檢測
由于具備StaticDetect靜電檢測功能,XPR微量分析天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
隨時可進行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件,為法規(guī)遵從和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。
核心技術(shù)參數(shù)與性能
1. 雙量程超微量精度
量程與可讀性:支持220g/0.01mg(標準量程)和121g/0.005mg(超微量模式)雙量程切換,最小稱量值(USP 標準)低至8mg,比傳統(tǒng)天平節(jié)省 30% 樣品用量。
傳感器技術(shù):采用MonoBloc 單模塊傳感器(無焊點整體式設(shè)計),抗沖擊能力提升 3 倍,過載保護達量程的 5 倍,配合SmartGrid 動態(tài)溫度補償,可在 ±15℃/ 小時的溫變環(huán)境下保持稱量≤0.02% FS。
2. 自動化加樣系統(tǒng)
粉末 / 液體雙模式:標配Q3 自動加樣模塊,支持自由流動粉末(如 API 原料)和低粘度液體(如電解液)的自動分配,最小加樣量低至0.4mg(1% 允差),≤0.5%。
智能路徑規(guī)劃:內(nèi)置3D 動態(tài)算法,根據(jù)樣品特性(如顆粒度、流動性)自動優(yōu)化加樣軌跡,避免結(jié)塊或飛濺。例如,在鋰電池極片涂布測試中,可實現(xiàn) 0.1mg 級漿料分配。
3. 靜電消除與抗干擾設(shè)計
StaticDetect + 離子發(fā)生器:集成方波信號檢測技術(shù),實時監(jiān)測靜電荷,當干擾超過閾值時自動報警,并通過內(nèi)置離子發(fā)生器(物料號 30460823)在 3 秒內(nèi)消除電荷,確保微量稱量的準確性。
雙重屏蔽系統(tǒng):采用內(nèi)層鋁箔 + 外層鍍錫銅編織網(wǎng)(覆蓋率≥90%),配合金屬外殼屏蔽,整體屏蔽效能達80dB 以上,可在電機驅(qū)動、焊接設(shè)備等強電磁環(huán)境下穩(wěn)定工作。
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