METTLERTOLEDO瑞士梅特勒電子天平XPR205/AC

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資料簡介

METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒電子天平 XPR205/AC

配有LabX

一次即準的結果

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項條件處于更佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結果。

StaticDetect 靜電檢測

由于具備StaticDetect專業(yè)功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。

始終可符合審計

將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規(guī)性和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。

相關產(chǎn)品

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