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A-5003-2283*英國(guó)雷尼紹測(cè)針2017/11/06: A-5003-2283*英國(guó)雷尼紹測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)

M-5000-4162英國(guó)雷尼紹測(cè)針工作原理2017/11/06: M-5000-4162英國(guó)雷尼紹測(cè)針工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需

M-5000-3647雷尼紹紅寶石測(cè)針工作原理2017/11/06: M-5000-3647雷尼紹紅寶石測(cè)針工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)

A-5003-2283雷尼紹RENISHAW測(cè)針*2017/11/06: A-5003-2283雷尼紹RENISHAW測(cè)針*關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換

雷尼紹RENISHAW測(cè)針A-5000-36042017/11/06: 雷尼紹RENISHAW測(cè)針A-5000-3604關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，

A-5000-4158*雷尼紹測(cè)針2017/11/06: A-5000-4158*雷尼紹測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)

A-2116-0141英國(guó)RENISHAW雷尼紹2017/11/06: A-2116-0141英國(guó)RENISHAW雷尼紹關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，

A-5003-4861雷尼紹renishaw紅寶石測(cè)針2017/11/06: A-5003-4861雷尼紹renishaw紅寶石測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊

A-5000-7727英國(guó)雷尼紹RENISHAW測(cè)針2017/11/06: A-5000-7727英國(guó)雷尼紹RENISHAW測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交

A-5000-7755雷尼紹測(cè)針技術(shù)參數(shù)2017/11/06: A-5000-7755雷尼紹測(cè)針技術(shù)參數(shù)關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新

M-5000-6714雷尼紹紅寶石測(cè)針/側(cè)頭工作原理2017/11/06: M-5000-6714雷尼紹紅寶石測(cè)針/側(cè)頭工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交

雷尼紹RENISHAW測(cè)針M-5000-75862017/11/06: 雷尼紹RENISHAW測(cè)針M-5000-7586關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，

A-5000-3709英國(guó)雷尼紹RENISHAW工作原理2017/11/06: A-5000-3709英國(guó)雷尼紹RENISHAW工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模

A-5000-6352*英國(guó)雷尼紹測(cè)針2017/11/06: A-5000-6352*英國(guó)雷尼紹測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)

A-5000-7521雷尼紹RENISHAW測(cè)針工作原理2017/11/06: A-5000-7521雷尼紹RENISHAW測(cè)針工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模

A-5000-7555雷尼紹紅寶石測(cè)針工作原理2017/11/06: A-5000-7555雷尼紹紅寶石測(cè)針工作原理關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)

A-5000-9761雷尼紹RENISHAW測(cè)針側(cè)頭2017/11/06: A-5000-9761雷尼紹RENISHAW測(cè)針側(cè)頭關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交

A-2197-0161英國(guó)雷尼紹RENISHAW測(cè)針側(cè)頭2017/11/06: A-2197-0161英國(guó)雷尼紹RENISHAW測(cè)針側(cè)頭關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模

A-5003-0236*英國(guó)雷尼紹測(cè)針2017/11/06: A-5003-0236*英國(guó)雷尼紹測(cè)針關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)

A-5003-1075雷尼紹RENICHAW測(cè)針測(cè)頭2017/11/06: A-5003-1075雷尼紹RENICHAW測(cè)針測(cè)頭關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括：TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）PI200測(cè)頭接口SCR200測(cè)針交換架還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。特性與優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量零復(fù)位誤差無(wú)各向同性影響六向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）快速測(cè)頭模塊交

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