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2023
06-28應(yīng)用分享 | MDP在4H-SiC少子壽命中的應(yīng)用
少數(shù)載流子壽命是影響半導(dǎo)體器件性能的基本參數(shù)之一，特別是對(duì)于應(yīng)用在高壓器件中的SiC來(lái)說(shuō)。對(duì)于外延層來(lái)說(shuō)，載流子壽命的主要影響因素是相當(dāng)復(fù)雜的，因?yàn)橥庋訉颖砻妗⑼庋訉?襯底界面、外延層和襯底這都有助于載流子復(fù)合行為。因此如何在樣品中獲取較準(zhǔn)確的載流子壽命成為問(wèn)題的關(guān)鍵。通過(guò)比較不同厚度生長(zhǎng)的4H-SiC外延層在相同激發(fā)條件下獲得的光致發(fā)光和光電導(dǎo)衰減測(cè)量的時(shí)間常數(shù)，有助于更好地理解這個(gè)問(wèn)題。實(shí)驗(yàn)條件和設(shè)備12~62µm的4H-SiC外延層通過(guò)化學(xué)氣相沉積在350µm厚的4H-SiCn+型襯底上(2023
06-282023
06-27德國(guó)弗萊貝格電池片PID測(cè)試儀PIDcon bifacial技術(shù)
自2010年以來(lái)，潛在的誘導(dǎo)退化被認(rèn)為是導(dǎo)致模塊故障的主要原因之一。利用弗勞恩霍夫CSP開發(fā)的新技術(shù)，以及弗萊貝格儀器公司的臺(tái)式工具PIDcon，可以對(duì)太陽(yáng)能電池和微型組件的PID敏感性進(jìn)行測(cè)試，現(xiàn)在已經(jīng)投入市場(chǎng)。了解更多關(guān)于PID的原因以及如何研究太陽(yáng)能電池、微型模塊和封裝材料的敏感性。PID-s的物理性質(zhì)電勢(shì)誘導(dǎo)退化（PID）是在晶體硅組件中觀察到的較高危險(xiǎn)的退化現(xiàn)象之一。在了解分流型PID（PID-s）的基本機(jī)制方面已經(jīng)取得了很大進(jìn)展。PID-s的物理性質(zhì)在現(xiàn)場(chǎng)，模塊中的前玻璃表面和太陽(yáng)能2023
06-24三維X射線顯微鏡（3D XRM）在紙張纖維微觀結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用
紙張是一種特殊的材料，其是由纖維（主要是植物纖維）和其他固體顆粒（如膠料、填料和助劑等物質(zhì)）交織結(jié)合而成的，具有多孔性網(wǎng)狀的微觀結(jié)構(gòu)。其中，作為紙張主要稱為的植物纖維，對(duì)絕大多數(shù)紙張的性能起到了決定性作用，因此針對(duì)紙張植物纖維的相關(guān)微觀表征就顯得尤為重要了。而在眾多的方法中，3DXRM，即三維X射線顯微鏡是一種可以在無(wú)損檢測(cè)的前提下表征樣品內(nèi)部真實(shí)三維空間結(jié)構(gòu)的全新手段，具有不可替代的優(yōu)勢(shì)和潛力。本文中，我們將以德國(guó)布魯克公司的Skyscan1272這一桌面型高分辨顯微成像系統(tǒng)為例，介紹一下該設(shè)2023
06-16【用戶成果賞析】 深圳清華應(yīng)用TOF-SIMS研究鋰金屬電池電解質(zhì)中溶劑化機(jī)制
鋰離子電池（LIBs）在歷經(jīng)幾十年的快速發(fā)展后，其能量密度已接近理論極限（300Whkg-1），這促使了鋰（Li）金屬化學(xué)的復(fù)興。實(shí)際上，由于鋰金屬電池（LMBs）存在脆弱的固體電解質(zhì)界面（SEI）和脫溶時(shí)效等因素，導(dǎo)致枝晶生長(zhǎng)和與集流體分離的非活性Li（也稱為“死鋰”）的形成，使LMB的實(shí)際應(yīng)用一直停滯不前。電解質(zhì)直接影響界面處鋰離子（Li+）的SEI化學(xué)和脫溶動(dòng)力學(xué)。通常，會(huì)通過(guò)增加鹽/配位溶劑的比例，即高濃度電解質(zhì)（HCE）和局部高濃度電解質(zhì)的策略來(lái)生成富含無(wú)機(jī)物的SEI以用于快速穩(wěn)定的L2023
06-15MDP少子壽命測(cè)試儀 | 摻雜樣品的光導(dǎo)率測(cè)量
B（硼）和P（磷）的摻雜被用于微電子工業(yè)的許多應(yīng)用，但是到目前為止，還沒(méi)有一種方法可以在不接觸樣品并由于必要的退火步驟而改變其特性的情況下檢查這些摻雜的均勻性。到目前為止的困難是，摻雜區(qū)域通常只有幾微米的深度，而且摻雜的劑量非常低。MDP能夠以高的分辨率來(lái)描述這些摻雜的樣品，并能很好地區(qū)分不同的摻雜劑量。在這種情況下，光導(dǎo)率或信號(hào)高度是檢測(cè)摻雜物中不均勻性的敏感的參數(shù)。它在很大程度上取決于電阻率和少數(shù)載流子壽命本身。在MDPmap和MDPingot設(shè)備中，可以集成4個(gè)不同波長(zhǎng)的激光器。此外，還可2023
06-11布魯克三維X射線顯微鏡在HTPB復(fù)合固體推進(jìn)劑微觀結(jié)構(gòu)研究中的作用
固體推進(jìn)劑是一種具有特定性能的含能復(fù)合材料，該材料是航天、空間飛信器等各種固體發(fā)動(dòng)機(jī)的動(dòng)力源，在**和航天技術(shù)發(fā)展中扮演著重要角色。其中復(fù)合固體推進(jìn)劑是以高聚物為基體。混油氧化劑和金屬燃料等組分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料，其宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)。近些年隨著對(duì)復(fù)合固體推進(jìn)劑研究的不斷深入，原有的微觀結(jié)構(gòu)表征方法或由于只能表征二維表面信息，或由于分辨率精度的限制，已不能適應(yīng)該領(lǐng)域研究的更高要求，在這種背景下，三維X射線顯微鏡（3DXRM）憑借能夠在無(wú)損研究情況下，從微米、亞微2023
06-11微型模組分類|電池片PID測(cè)試儀PIDcon bifacial
臺(tái)式系統(tǒng)PIDcon可以對(duì)微組模塊進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，作為一種快速和低成本的PID敏感性測(cè)試，不需要?dú)夂蚴一蚱渌麛U(kuò)張性工具。小型模組分類電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問(wèn)題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品對(duì)PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈的早期測(cè)試他們的產(chǎn)品，例如在微型模塊上。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽(yáng)能電池的分流。迷你模塊通過(guò)2個(gè)接觸點(diǎn)進(jìn)行接觸，并通過(guò)接觸檢查確保良好的接觸。PIDStudio軟件使用戶能夠2023
06-112023
06-07德國(guó)弗萊貝格-太陽(yáng)能電池分類| 電池片PID測(cè)試儀PIDcon bifacial
太陽(yáng)能電池分類：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽(yáng)能電池放置在PIDcon中電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問(wèn)題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。因此，太陽(yáng)能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進(jìn)行研究。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是太陽(yáng)能電池由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）而產(chǎn)生的分流。為了對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行分類，使用敏感的EVA和玻璃是很重要的，這樣太陽(yáng)能電2023
06-07德國(guó)弗萊貝格-生產(chǎn)監(jiān)控|電池片PID測(cè)試儀PIDcon bifacial
根據(jù)IEC62804標(biāo)準(zhǔn)PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon測(cè)量的典型結(jié)果電勢(shì)誘導(dǎo)退化（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問(wèn)題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對(duì)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)單元進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，測(cè)試新工藝、材料或?qū)拥淖兓?，并?duì)各種模塊步驟進(jìn)行鑒定。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽(yáng)能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實(shí)際上與IEC標(biāo)準(zhǔn)相同（圖1）。樣品堆2023
06-07德國(guó)弗萊貝格|臺(tái)式PID檢測(cè)儀用于EVA及其它封裝材料的評(píng)估
EVA評(píng)估不同的EVA薄膜與來(lái)自同一批次和同一玻璃的太陽(yáng)能電池的比較PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon可以通過(guò)使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來(lái)調(diào)查EVA箔對(duì)PID敏感性的影響。用戶只需將太陽(yáng)能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當(dāng)然，必須使用同一批次的太陽(yáng)能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。2023
06-07德國(guó)弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測(cè)試解決方案
論文來(lái)源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評(píng)估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測(cè)試方法，需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外，還需要在測(cè)試方案中加入恢復(fù)步驟來(lái)將可逆2022
05-252022
05-20熱釋光考古測(cè)定儀-lexsygresearch-在考古中的應(yīng)用
釋光：晶體物質(zhì)的一種發(fā)光現(xiàn)象，晶體中的電子吸收放射性能量并貯藏,當(dāng)受到加熱或光照時(shí),電子以發(fā)射光的形式失去部分能量，加熱發(fā)出的光叫熱釋光,光照時(shí)發(fā)出的光叫光釋光燧石和其它被加熱的巖石含有非晶態(tài)/微晶SiO2的巖石在加熱到大約400°C時(shí)，可以用發(fā)光法測(cè)定其年代。這樣的溫度，不管是偶然的還是故意的，都很容易在火爐中達(dá)到，因此這個(gè)日期事件與以前火災(zāi)中燧石的加熱有關(guān)。u用光釋光分析石英卵石或砂巖u用熱釋光分析燧石、打火石、角巖、砂巖和石英卵石u建立舊石器時(shí)代年代地層（e.g.Valladasetal.2022
05-20應(yīng)用文章-石英的光釋光測(cè)年的應(yīng)用
光照減少了石英的光釋光(OSL)信號(hào)，并為日曬物和沉積物的年代測(cè)定提供了依據(jù)。OSL年代測(cè)定年代范圍：u幾年(視lexsyg系統(tǒng)特別開發(fā)設(shè)備的信號(hào)強(qiáng)度和靈敏度而定)u可達(dá)150-20萬(wàn)年(取決于劑量測(cè)定)沉積物種類u沙丘或黃土等風(fēng)成沉積物非常適合u湖泊和河流沉積可以確定年代u冰川沉積物相對(duì)困難應(yīng)用于：u地貌重建u古環(huán)境重建u地震的歷史u河流系統(tǒng)重建u年代地層學(xué)用于石英的激發(fā)波長(zhǎng)：u藍(lán)光u綠光uUVMurrayAS&WintleAG(2000)《用改進(jìn)的單分片再生劑量法對(duì)石英進(jìn)行發(fā)光測(cè)年》Radi2022
05-20空間分辨發(fā)光-混合沉積物或非均勻輻射場(chǎng)的單粒測(cè)年
并不是沉積物樣本中的每一粒顆粒都反映了同樣的漂洗和掩埋歷史。通過(guò)分析單一礦物實(shí)體(無(wú)論是顆粒還是部分)，可以區(qū)分不同的劑量群，并為不同的事件(如擱淺或沉積)推導(dǎo)出模型。u空間分辨發(fā)光的單顆粒檢測(cè)u單顆粒測(cè)量u生物擾動(dòng)和混合的檢測(cè)u沉積組分的分類，如巖石侵蝕與風(fēng)成作用u異質(zhì)樣品的空間分析，例如礦物共生由lexsygresearch檢測(cè)到的石英顆粒前2秒藍(lán)色激發(fā)光的偽色空間分辨發(fā)光參考文獻(xiàn)：ChauhanN,AdhyaruP,VaghelaH&SinghviAK(2014)《基于EMCCD的發(fā)光成像2022
05-202022
05-20光釋光地質(zhì)年代測(cè)定儀-research-光釋光地質(zhì)年代測(cè)定系統(tǒng)
沉積物中的礦物顆粒被掩埋之后不斷接受來(lái)自周圍環(huán)境的輻射，導(dǎo)致礦物顆粒隨時(shí)間的增長(zhǎng)不斷累積輻射能。通過(guò)加熱或者光束照射激發(fā)礦物顆粒使累積的輻射能以光的形式被激發(fā)出來(lái)，這就是釋光信號(hào)。通過(guò)加熱激發(fā)的釋光信號(hào)叫熱釋光，通過(guò)光束激發(fā)的釋光信號(hào)叫光釋光。其測(cè)年物質(zhì)是石英或長(zhǎng)石，在絕大多數(shù)沉積物中含量豐富，因而被廣泛應(yīng)用。石英的光釋光測(cè)年光照減少了石英的光釋光(OSL)信號(hào)，并為日曬物和沉積物的年代測(cè)定提供了依據(jù)。OSL年代測(cè)定年代范圍：u?幾年(視lexsyg系統(tǒng)特別開發(fā)設(shè)備的信號(hào)強(qiáng)度和靈敏度而定)u?可2022
05-20【德國(guó)弗萊貝格測(cè)年儀】脈沖：混合礦物樣品測(cè)年
脈沖：混合礦物樣品測(cè)年有時(shí)沉積物或固體樣品(多礦物樣品)中的礦物分離是不可能的，特別是在礦物連生的情況下。脈沖(即短光激發(fā))激發(fā)是利用不同礦物的發(fā)光信號(hào)的不同衰減時(shí)間來(lái)檢測(cè)主要來(lái)自單一礦物的發(fā)光信號(hào)。分離不同礦物的發(fā)光信號(hào)避免繁瑣的樣品準(zhǔn)備參見(jiàn)空間分辨發(fā)光石英和長(zhǎng)石信號(hào)的發(fā)光衰減（fromDenbyetal.,2006）參考文獻(xiàn)：DenbyPM,Botter-JensenL,MurrayAS,ThomsenKJ&MoskaP(2006)《脈沖光釋光在石英/長(zhǎng)石混合樣品中發(fā)光組分分離中的應(yīng)用》Ra掃一掃訪問(wèn)手機(jī)商鋪
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