當(dāng)前位置：束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>技術(shù)文章展示
您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
86-021-34685181
會(huì)員.png)
6
當(dāng)前位置：束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>技術(shù)文章展示
2025
02-18電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)
電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)涉及環(huán)境條件、電源管理、定期檢查與維護(hù)、樣品處理與存放以及軟件維護(hù)等多個(gè)方面。只有做好這些養(yǎng)護(hù)工作，才能確保儀器的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)使用壽命。以下是電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)：1.環(huán)境條件-溫度與濕度：儀器應(yīng)放置在溫度、濕度相對(duì)穩(wěn)定的環(huán)境中，一般溫度保持在15℃-30℃，相對(duì)濕度在20%-80%為宜。避免將儀器放置在潮濕、高溫或陽(yáng)光直射的地方，以免影響儀器的性能和壽命。例如，在潮濕的環(huán)境中，儀器內(nèi)部的電子元件可能會(huì)受潮生銹，導(dǎo)致電路故障；而高溫環(huán)境可能會(huì)使儀器的部件老化2025
01-162025
01-14高穿透力與高分辨率：高分辨x射線顯微鏡的優(yōu)勢(shì)
在探索微觀世界的奧秘中，高分辨X射線顯微鏡以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)成為科研人員的重要工具。這種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)利用X射線作為探測(cè)手段，通過(guò)重建算法獲得樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，為材料科學(xué)、生物學(xué)和醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的支持。高分辨X射線顯微鏡的核心優(yōu)勢(shì)在于其高分辨率和強(qiáng)穿透力。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它能夠觀察到更深層次的微觀結(jié)構(gòu)，揭示物質(zhì)內(nèi)部的復(fù)雜細(xì)節(jié)。X射線的短波長(zhǎng)使得顯微鏡能夠提供更為精確的測(cè)量數(shù)據(jù)，這對(duì)于理解物質(zhì)的基本性質(zhì)和行為至關(guān)重要。在材料科學(xué)研究中，X射線顯微鏡被廣泛應(yīng)用于分析材料的微觀結(jié)構(gòu)和缺2025
01-132024
12-25全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列(八)——非室溫XRD
D6PHASER作為市面上功能強(qiáng)大的臺(tái)式X射線衍射儀之一，擁有高達(dá)1200W的光管功率和緊湊的測(cè)角儀半徑，是分析小體積樣品的選擇。非環(huán)境X射線粉末衍射（XRPD）可以方便地集成到D6PHASER臺(tái)式衍射儀中。AntonPaar的緊湊型BTS150/500加熱臺(tái)（圖1）可以裝載在D6PHASER內(nèi)。用戶能夠針對(duì)樣品進(jìn)行原位變溫物相表征，BTS150加熱臺(tái)的測(cè)量溫度區(qū)間為-10~150℃，而BTS500加熱臺(tái)則可以從室溫加熱到500℃。D6PHASER的專有中心臺(tái)架保證從其他樣品臺(tái)替換為加熱臺(tái)后，全2024
12-25應(yīng)用分享 | 布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273檢測(cè)漏液5號(hào)標(biāo)準(zhǔn)堿性電池
在現(xiàn)代電子設(shè)備中，5號(hào)（AA）電池是比較常見的電池類型之一。它廣泛應(yīng)用于各種家用電器、玩具、遙控器以及其他便攜設(shè)備中。了解電池的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作狀態(tài)對(duì)于提高電池的性能和安全性具有重要意義。布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273作為一種高分辨率的無(wú)損檢測(cè)工具，能夠深入揭示電池內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和潛在缺陷。為了能夠使得檢測(cè)結(jié)果更具代表性，本文將詳細(xì)介紹應(yīng)用SkyScan1273表征漏液的標(biāo)準(zhǔn)5號(hào)堿電池內(nèi)部結(jié)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。實(shí)驗(yàn)方法1.儀器簡(jiǎn)介布魯克SkyScan1273是一款先進(jìn)的桌面型三維X射線顯微2024
12-18應(yīng)用分享 I 資源所發(fā)現(xiàn)新礦物“白鴿礦”-XPS
一、引言新礦物研究，是地球科學(xué)領(lǐng)域重要的基礎(chǔ)性研究工作。新礦物的發(fā)現(xiàn)不僅可以增加自然界的礦物種類，同時(shí)也可以為人類認(rèn)識(shí)和利用自然界礦物提供新的參考。截至2022年3月，全球已累計(jì)發(fā)現(xiàn)新礦物5794種。新礦物的發(fā)現(xiàn)數(shù)量、研究深度及分析技術(shù)水平展現(xiàn)了一個(gè)國(guó)家基礎(chǔ)科技的軟實(shí)力與硬實(shí)力，是國(guó)家綜合實(shí)力的體現(xiàn)。近年來(lái)，我國(guó)加大了對(duì)新礦物研究的支持力度，我國(guó)新礦物事業(yè)迎來(lái)了難得的發(fā)展契機(jī)。中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局礦產(chǎn)資源研究所李以科研究團(tuán)隊(duì)長(zhǎng)期致力于戰(zhàn)略性關(guān)鍵礦產(chǎn)成礦作用與資源評(píng)價(jià)研究工作。二、成果介紹12月2日，由2024
12-182024
12-18應(yīng)用分享 I 微區(qū) XPS 在摩擦學(xué)研究與抗磨材料開發(fā)中的應(yīng)用
摩擦副之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)必然會(huì)產(chǎn)生摩擦和磨損，全球約80%的機(jī)械零件失效都是由摩擦磨損造成的。此外，地球上每年近三分之一的一次能源消耗被用來(lái)克服各種系統(tǒng)和設(shè)備的摩擦，這不僅造成了大量的能量損失，而且限制了能源效率的優(yōu)化。因此，系統(tǒng)深入地研究材料摩擦過(guò)程中在表面、界面所發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)，從微觀或分子、原子水平上認(rèn)識(shí)材料有效和失效的機(jī)理，繼而指導(dǎo)設(shè)計(jì)制備具有優(yōu)異摩擦學(xué)特性的材料，對(duì)于節(jié)約能源、提高機(jī)械裝置使用壽命以及減少環(huán)境污染具有重要意義。XPS作為表面化學(xué)分析有效的技術(shù)之一，在摩擦學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用普遍。然而2024
12-162024
12-13超越光學(xué)顯微鏡：X射線顯微成像系統(tǒng)的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)
在科學(xué)探索的征程中，X射線顯微成像系統(tǒng)宛如一把神奇的鑰匙，開啟了微觀世界的大門，讓我們得以一窺物質(zhì)內(nèi)部的奧秘。顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)的相互作用。X射線具有高能量、短波長(zhǎng)的特性，當(dāng)它穿透樣品時(shí)，會(huì)因樣品內(nèi)部不同結(jié)構(gòu)對(duì)X射線吸收、散射等程度的差異而產(chǎn)生不同的信號(hào)。這些信號(hào)被探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)化為圖像信息，從而呈現(xiàn)出樣品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的清晰圖像。X射線顯微成像系統(tǒng)在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。在材料科學(xué)領(lǐng)域，它能夠深入材料內(nèi)部，觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)缺陷、晶體結(jié)構(gòu)等。例如，在研究新型合金材料時(shí)，可以通過(guò)2024
12-04應(yīng)用分享｜關(guān)于鈣鈦礦電池中PID測(cè)試的新研究
應(yīng)用背景該文章翻譯于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等機(jī)構(gòu)共同研究的工作。電勢(shì)誘導(dǎo)衰減（PID效應(yīng)）普遍存在于晶體硅太陽(yáng)能電池中，通常是由鈉離子產(chǎn)生分流效應(yīng)引起的，傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池已經(jīng)開發(fā)出標(biāo)準(zhǔn)的PID測(cè)試條件。利用FreiburgInstruments開發(fā)的PIDcon設(shè)備，我們研究了標(biāo)準(zhǔn)化PID測(cè)試程序是否適用于各種結(jié)構(gòu)和成分的鈣鈦礦太陽(yáng)能電池，結(jié)果發(fā)現(xiàn)盡管鈣鈦礦材料與硅基電池結(jié)構(gòu)有明顯差異，但PID測(cè)試結(jié)果顯示了它2024
11-27XRM應(yīng)用分享 | Skyscan 2214與MTS： 揭秘樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)與力學(xué)行為的黃金搭檔
在工程力學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域，對(duì)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和力學(xué)行為的深入研究至關(guān)重要。這不僅關(guān)系到材料的應(yīng)用性能，還直接影響到工程安全和效率。目前，我們要介紹的是Skyscan2214和MTS（材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)）這一對(duì)在力學(xué)研究中不能缺少的黃金搭檔。Skyscan2214：高分辨率X射線成像系統(tǒng)Skyscan2214是由Bruker公司生產(chǎn)的高分辨率X射線成像系統(tǒng)，它在材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)研究中扮演著重要角色。以下是Skyscan2214的一些關(guān)鍵特性和應(yīng)用：1.高分辨率成像能力Skyscan2214擁有高達(dá)160kV2024
11-20全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列（七）— 掠入射衍射- X射線衍射XRD
掠入射衍射介紹掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一種常用方法。薄膜樣品在Bragg-Brentano對(duì)稱衍射中通常表現(xiàn)出非常微弱的衍射信號(hào)，原因在于X射線可穿透薄膜照射到底層襯底，由于襯底其較大的散射體積，導(dǎo)致其衍射信號(hào)在終端信號(hào)中占據(jù)主導(dǎo)地位。然而，如果不是BB幾何的發(fā)散光路，而是一束細(xì)的平行光束照向樣品表面，這樣它只穿透薄膜而不穿透下方的襯底材料，那么來(lái)自薄膜的衍射信號(hào)則會(huì)成為主導(dǎo)。通過(guò)優(yōu)化平行光束的入射角度，可以將薄膜層的散射信號(hào)與2024
11-20如何確保晶圓片在線面掃檢測(cè)儀的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性？
在現(xiàn)代半導(dǎo)體制造業(yè)中，對(duì)晶圓片表面質(zhì)量的精確檢測(cè)是至關(guān)重要的。晶圓片在線面掃檢測(cè)儀作為一種先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，因其能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控晶圓片表面的微小缺陷，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體生產(chǎn)線上。晶圓片在線面掃檢測(cè)儀的設(shè)計(jì)充分考慮了高效檢測(cè)的需求。它通常由一個(gè)高速掃描系統(tǒng)和一個(gè)高分辨率成像系統(tǒng)組成，能夠在晶圓片傳輸過(guò)程中實(shí)時(shí)捕捉表面圖像，并通過(guò)圖像處理算法自動(dòng)識(shí)別和分類各種缺陷。這種設(shè)計(jì)不僅能夠提高生產(chǎn)效率，還能夠顯著降低因缺陷導(dǎo)致的產(chǎn)品報(bào)廢率。晶圓片在線面掃檢測(cè)儀還具備多種高級(jí)功能，以滿足不同的應(yīng)用需求。例如，一些型2024
11-20應(yīng)用分享 | AES俄歇電子能譜專輯之應(yīng)用案例(二)
上篇介紹了俄歇電子能譜（AES）的定性分析、定量分析及化學(xué)態(tài)分析功能，本篇我們將繼續(xù)分享更多AES高級(jí)功能，其中包括表面形貌觀察、深度分析及顯微分析。表面形貌觀察AES作為一種先進(jìn)的電子束探針表征技術(shù)，在納米級(jí)乃至更高精度的空間分辨要求上展現(xiàn)出了強(qiáng)大的優(yōu)勢(shì)，因此非常適用于納米尺度材料的表征。與掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）等依賴電子束探針的技術(shù)相似，AES在電子束聚焦能力上表現(xiàn)出色，尤其是場(chǎng)發(fā)射電子束技術(shù)的融入，極大地提升了其空間分辨能力。當(dāng)前PHI710俄歇設(shè)備的SEM圖像2024
11-202024
11-15半導(dǎo)體制造：晶圓片在線面掃檢測(cè)儀的作用與價(jià)值
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，質(zhì)量控制是確保芯片性能和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著技術(shù)的發(fā)展，晶圓片在線面掃檢測(cè)儀成為了這一過(guò)程中不可或缺的工具。晶圓片在線面掃檢測(cè)儀是一種高精度的檢測(cè)系統(tǒng)，專門用于監(jiān)測(cè)晶圓片表面的微小缺陷。這些缺陷可能包括顆粒污染、劃痕或圖案不完整等，它們都可能影響最終產(chǎn)品的性能。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，該設(shè)備能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并反饋給生產(chǎn)線，從而避免不良品的產(chǎn)生。該檢測(cè)儀基于光學(xué)掃描技術(shù)。一束激光或強(qiáng)光被引導(dǎo)至晶圓片表面，并通過(guò)高分辨率的攝像頭捕捉反射回來(lái)的光線。如果晶圓片表面存在任何不規(guī)則性，如凸起或凹2024
11-13應(yīng)用分享 | 氬離子設(shè)備 (XPS、PHI710、TOF-SIMS)
氬離子設(shè)備對(duì)于表面分析，樣品表面極易被污染。為了清潔被污染的固體表面,在能譜分析中,常常利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行濺射剝離,以清潔表面。利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束定量地剝離一定厚度的表面層,然后再分析表面成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖。同時(shí)，離子設(shè)備也兼具中和樣品表面荷電的作用。一、氬離子設(shè)備原理圖▲圖1氬離子設(shè)備原理圖二、氬離子設(shè)備實(shí)圖▲圖2氬離子設(shè)備圖三、氬離子設(shè)備主要作用清潔(樣品表面被污染)清潔被污染的樣品表面,利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行濺射剝離,以2024
10-30XRM應(yīng)用分享 | 高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，高分辨顯微CT（ComputedTomography）檢測(cè)技術(shù)作為一種非破壞性的三維成像技術(shù)，在生命科學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力和價(jià)值。其不僅能夠?qū)崿F(xiàn)生物樣本的精確成像，還能提供豐富的生物學(xué)信息，為生命科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。本文旨在探討高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用，并分析其在推動(dòng)科學(xué)進(jìn)步方面的作用。一、概述高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)是一種基于X射線的高精度三維成像技術(shù)，它結(jié)合了CT掃描與顯微鏡技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，能夠在不破壞樣本的前提下，實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)別的掃一掃訪問(wèn)手機(jī)商鋪
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示：為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。