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2025
04-10

鎢燈絲掃描電鏡的維護與保養(yǎng)技巧
鎢燈絲掃描電鏡是一種高精度的儀器，廣泛應用于科研、工業(yè)和技術領域。由于鎢燈絲工作時會產生高溫和高能量，使用過程中會受到熱負荷和磨損。因此，合理的維護與保養(yǎng)鎢燈絲至關重要，以保證其穩(wěn)定運行和圖像質量。以下是一些鎢燈絲掃描電鏡的維護與保養(yǎng)技巧：一、正確的操作與開關機流程鎢燈絲的壽命與使用時的操作密切相關。啟動掃描電子顯微鏡時，應按正確的開機程序慢慢加熱燈絲。避免直接高壓啟動，因為驟然加熱可能會導致鎢燈絲因熱應力而損壞。此外，關閉時也要避免驟冷，最好讓燈絲逐漸冷卻，避免熱脹冷縮導致燈絲斷裂。二、保持適
2025
04-07

場發(fā)射掃描電子顯微鏡在材料科學中的應用
場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，廣泛應用于材料科學中。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡相比，它具有更高的電子束亮度和更小的電子源尺寸，這使得其能夠獲得更精細的圖像，并且具有更高的空間分辨率。其核心優(yōu)勢在于它能夠在納米級別上提供高質量的圖像，廣泛應用于材料表面、結構和成分的分析。場發(fā)射掃描電子顯微鏡在材料科學中的應用如下：一、材料表面形貌分析廣泛用于材料科學中的表面形貌研究，尤其是在納米材料、復合材料以及微電子器件的制造過程中。通過使用，研究人員可以在納米尺度上對材料的表面進行詳細的觀察，揭示其
2025
04-04

sem掃描電鏡的技術原理與應用領域
sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，產生高分辨率的圖像并分析樣品的表面形貌、成分和結構的顯微分析工具。通過將電子束聚焦到樣品表面，并檢測與電子相互作用后產生的信號，如二次電子、反射電子等，來獲得圖像信息。sem掃描電鏡的工作原理基于電子束和樣品表面相互作用時產生的各種信號。在顯微鏡中，電子槍產生高速電子束，通過一系列電磁透鏡將電子束聚焦成細小的光斑，照射到樣品的表面。電子束與樣品表面原子相互作用，產生不同類型的信號，主要包括：1、二次電子（SE）：電子束打擊樣品時，樣品原子外層的電子被激
2025
04-03

掃描電鏡首入藥典！賽默飛電鏡助力藥企研發(fā)-環(huán)掃篇
2025年3月25日，2025年版《中國藥典》正式發(fā)布。該版藥典首次將“掃描電子顯微鏡法”這樣一種常用的、先進的微觀表征分析技術納入，闡述其檢測原理、樣品制備及檢測方法等，以擴大其在藥品研發(fā)和藥品質量控制領域中的進一步應用。不管是臺式還是落地式，鎢燈絲還是場發(fā)射，賽默飛為廣大藥企客戶提供了全系列的掃描電鏡產品線。在賽默飛全系列掃描電鏡中，獨具特色的環(huán)境掃描電鏡Quattro是經(jīng)典的Quanta系列的繼任型號，不僅可實現(xiàn)高分辨觀察，而且同時其三種真空模式：高真空，低真空及環(huán)境掃描（ESEM）模式可
2025
04-03

聚焦前沿丨突破性催化劑技術登上《Nature》：球差校正環(huán)境透射電鏡助力揭示合成氣高效轉化新路徑
近日，國家能源集團北京低碳清潔能源研究院及其合作單位埃因霍溫理工大學在國際頂級期刊《Nature》發(fā)表突破性研究，揭示了合成氣高效轉化為線性α-烯烴（LAOs）的新型催化劑技術[1]。北京低碳清潔能源研究院王鵬研究員，蔣復國研究員，門卓武研究員以及荷蘭埃因霍芬理工大學的EmielJ.M.Hensen教授參與此項研究。合成氣高效轉化：從低效碳利用到精準催化石油長期以來是燃料與化學品生產的主要原料，但煤炭、天然氣和生物質等替代資源的開發(fā)日益受到關注。這些資源通過氣化生成合成氣（CO/H2混合物），隨
2025
04-01

從原理到應用：深入了解fei掃描電鏡
fei掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，結合電子信號產生圖像的顯微鏡，在材料科學、生命科學、半導體工業(yè)等領域應用廣泛。通過其高分辨率、高靈敏度和多種信號檢測方式，提供了深刻的材料分析能力。一、fei掃描電鏡的原理1、電子束與樣品相互作用其基本原理基于電子束掃描樣品表面。當電子槍發(fā)射的高速電子束以微小的焦點掃描樣品表面時，電子束與樣品中的原子相互作用，產生多種信號。這些信號包括二次電子（SE）、背散射電子（BSE）、X射線等。通過收集這些信號來形成樣品表面的圖像。2、電子顯微鏡系統(tǒng)基本組成包括
2025
01-02

以電鏡視角切入神經(jīng)科學的跨尺度研究（一）：神經(jīng)退行性疾病
近年來，電子顯微鏡技術在神經(jīng)科學研究中取得了令人矚目的進展。通過高分辨率和三維成像技術，科學家們能夠深入探索神經(jīng)細胞和組織的超微結構，可以研究許多以前難以處理的靶點，如膜蛋白、異質蛋白復合物和巨型復合物組裝。它已被用于神經(jīng)科學的幾乎所有主要領域，讓我們得以一窺神經(jīng)元細胞內隱藏的分子機制。賽默飛強大的電子顯微鏡家族，為科學家們的跨尺度研究提供強有力的技術支撐。從單顆粒分析技術（SPA）、冷凍電子斷層掃描（Cryo-ET）到體電子顯微鏡（VolumeEM），多種技術路線，串起從分子、蛋白質、亞細胞、
2025
01-02

探秘海洋中的微型真核生物的生活
海洋中微型真核生物的重要性由于微型真核生物在海洋生態(tài)系統(tǒng)和全球生態(tài)過程中扮演著重要角色，探索海洋中的微型真核生物具有極其重要的意義。這些微生物在營養(yǎng)循環(huán)和能量流動中起著至關重要的作用，是海洋食物鏈的基本組成部分。[1]深入研究它們的多樣性、分布及功能，包括線粒體形態(tài)和內膜細胞器等方面，可以為海洋生物學、生態(tài)學和環(huán)境科學的研究帶來重大突破。發(fā)現(xiàn)完整的3D細胞模型在最近的一項研究中，[2]來自捷克科學院和南波希米亞大學（捷克共和國）的研究人員對雙鞭毛微型真核生物Lacrimiavacuolate進行
2024
12-17

半導體行業(yè)如何“變道超車”——賽默飛Helios 5 Hydra助力封裝技術革新
半導體行業(yè)正處在新形勢和新趨勢的十字路口，半導體技術進入后摩爾時代，人工智能（AI）逐步成為從云-邊-端的現(xiàn)象級應用并驅動產業(yè)增長，全球半導體產業(yè)迎來產業(yè)鏈的重新調整。通過先進封裝彌補先進制造，實現(xiàn)“變道超車”，成為一種廣泛認同的方式。在后摩爾時代，半導體面臨“四堵墻”的限制：?存儲墻：TB級帶寬難以滿足P級和E級算力需求；?面積墻：芯片面積接近光罩極限，導致可用內核占比下降；?功耗墻：功耗增大，并且散熱困難；?功能墻：單一芯片襯底可實現(xiàn)的功能有限；各類先進封裝技術應運而生，以突破這“四堵墻”的
2024
12-17

了解電池中納米級的三維鋰分布
隨著汽車制造商和監(jiān)管機構把目光轉向電動汽車(1)，鋰電池（LIBs）仍然是應用廣泛、安全且相對便宜的能源存儲技術(2)。電動汽車需求的快速增長(3)極大地推動了電池研究和質控領域的發(fā)展(4)。由于電池是高度結構化和多尺度的裝置，因此在不同尺度上檢查組件對于確保性能的穩(wěn)定性和可靠性至關重要(5)。與其他化學電池一樣，鋰離子電池依賴正極和負極材料之間的納米尺度的交互作用。如果化學物質和支撐材料的分布受到干擾或者劣化，電池將發(fā)生容量衰減，甚至出現(xiàn)熱失控(6)。驗證材料在納米尺度的變化最好通過電子顯微鏡
2024
12-08

fei掃描電子顯微鏡的基本工作原理解析
fei掃描電子顯微鏡是一種利用電子束掃描樣品表面以獲得其形貌和成分信息的強大工具。它可以用于觀察金屬、陶瓷、聚合物、生物組織等各種材料的表面形態(tài)，以及研究材料的微觀結構和性能之間的關系。以下是fei掃描電子顯微鏡的基本工作原理：1、電子束的產生：首先通過一個高能電子槍產生一束極細的電子束。這束電子通常由熱場發(fā)射電子槍或六硼化鑭(LaB6)電子槍產生，它們能夠提供更穩(wěn)定和高質量的電子源。2、電子束的加速和聚焦：產生的電子束被加速至高能量，并通過一系列電磁透鏡進行聚焦。這些透鏡的作用是確保電子束在到
2024
12-02

fei冷凍透射電鏡在生物樣品成像中的優(yōu)勢
fei冷凍透射電鏡是一種在超低溫條件下對樣品進行成像的技術，主要用于觀察和分析生物樣品，為科學家們提供了深入了解物質微觀結構的機會。以下是fei冷凍透射電鏡在生物樣品成像中的主要優(yōu)勢：1、更接近天然狀態(tài)：通過將樣品迅速冷凍，使其在接近生理狀態(tài)下被固定，從而能夠觀察生物分子和細胞結構在自然狀態(tài)下的形態(tài)和功能。這種方法減少了樣品制備過程中可能引起的形變和損傷，使得研究結果更加可靠。2、高分辨率成像：能夠提供原子級別的分辨率，這對于解析生物大分子的三維結構至關重要。例如，通過使用，科學家們已經(jīng)成功解析
2024
11-09

通過研究硬骨魚的智力來揭示大腦進化
不同動物的高階腦功能曾經(jīng)，高階智力被認為是靈長類動物獨有的，這是通過一些復雜的認知功能，如使用先進的工具和自我識別來確定的。然而，這些智力特征已經(jīng)在除了哺乳動物之外的許多其他種類動物身上被發(fā)現(xiàn)。值得注意的是，鴉科動物和鸚鵡表現(xiàn)出了高度先進的行為，包括使用創(chuàng)造性的工具，這些需要結合復雜的推理、計劃和精細協(xié)作技能。高級腦功能的發(fā)展伴隨著相對腦質量的增強，稱為腦化。在靈長類動物中，與其他哺乳動物相比，相當于大腦皮層的大小增加了。人們很自然地認為，鳥類的智力也會以同樣的方式增長，但相反，研究發(fā)現(xiàn)它們的蒼
2024
11-09

未來已來丨一窺電子顯微鏡如何影響AI算力提升
早在2022年，OpenAI發(fā)布基于大語言模型的ChatGPT，就轟動全球，自此之后，各類AI大模型如同雨后春筍般涌現(xiàn)。訓練這些大模型需要阿伏伽德羅常數(shù)級的算力，以訓練GPT-4為例，需要215億petaFLOP，1peta是10的15次方，即2.15x1025次浮點運算。阿伏伽德羅常數(shù)只有6.02x1023。為了滿足對芯片算力的需求，邏輯芯片的線寬不斷縮小，器件結構更加復雜。從平面柵到鰭柵（FinFET），再到全環(huán)繞柵（GAA）。NVIDIAH100芯片就是廣泛應用的AI訓練芯片的產品，其先進
2024
11-07

fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理
fei雙束電子顯微鏡是一種結合了離子束和掃描電子顯微鏡的先進成像技術。它利用離子束和電子束來對樣品進行成像和加工，具有高分辨率、高靈敏度和高精度的優(yōu)點，廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術等領域。fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理如下：1、離子束制備樣品表面：離子束主要用于樣品表面的加工和預處理。離子束可以清除樣品表面的氧化層或有機物，裸露出純凈的樣品表面。離子束還可以進行局部蝕刻、切割、沉積等加工操作，為后續(xù)的電子顯微鏡成像提供高質量的樣品表面。2、電子束成像樣品表面：在樣品表面經(jīng)過離子束處理
2024
11-01

sem掃描電子顯微鏡的主要組成部分
sem掃描電子顯微鏡是一種高分辨率電子顯微鏡，它利用聚焦的電子束來掃描樣品表面并產生高分辨率的圖像。它的主要組成部分包括電子源、電子光學系統(tǒng)、樣品臺、探測器和顯示和控制系統(tǒng)。1、電子源：sem掃描電子顯微鏡的電子源通常是熱發(fā)射陰極，通過加熱陰極產生高能量的電子束。這些電子束經(jīng)過加速管和減速管后，被聚焦成一個細小的束以掃描樣品表面。2、電子光學系統(tǒng)：電子光學系統(tǒng)包括透鏡、光柵和掃描線圈等部件，用于將電子束聚焦到樣品表面并進行掃描。透鏡可以調節(jié)電子束的焦距，光柵用于調節(jié)電子束的強度和方向，掃描線圈則
2024
10-23

比較SEM掃描電鏡與光學顯微鏡在景深、放大倍數(shù)和分辨率方面的差異
SEM掃描電鏡與光學顯微鏡在景深、放大倍數(shù)和分辨率方面存在顯著的差異，這些差異使得它們各自在特定的科學研究和工業(yè)應用領域中發(fā)揮著不可替代的作用。首先，從景深的角度來看，光學顯微鏡的景深相對較淺，通常在2-3um之間。這意味著在觀察樣品時，只有很薄的一層樣品表面能形成清晰的圖像，對樣品的表面平滑度要求很高。而SEM掃描電鏡的景深則要大得多，可以達到幾毫米。這一特性使得SEM能夠觀察樣品表面不同深度的形態(tài)結構，對樣品表面的幾何形狀和光滑程度要求較低，樣品的準備也相對簡單。其次，在放大倍數(shù)方面，光學顯
2024
10-23

場發(fā)射掃描電子顯微鏡的使用與維護
場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FieldEmissionScanningElectronMicroscope，簡稱FESEM)是一種高性能的電子顯微鏡，以其超高分辨率和廣泛的應用領域而著稱。以下是對場發(fā)射掃描電子顯微鏡的詳細介紹：一、基本原理FESEM利用場發(fā)射電子槍作為電子源，通過電子束的精細聚焦和光柵式掃描方式，將電子束照射到樣品表面。電子與樣品相互作用后，產生二次電子、背散射電子等信號，這些信號被收集并處理成顯微形貌的放大圖像。FESEM通過調節(jié)電子束的加速電壓、束流和掃描范圍等參數(shù)，可以實現(xiàn)對樣
2024
10-23

fei掃描透射電子顯微鏡：高分辨率分析儀器
FEI掃描透射電子顯微鏡(ScanningTransmissionElectronMicroscopy，簡稱STEM)是一種集成了掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)功能的高分辨率分析儀器。這種顯微鏡在材料科學、生物學、納米技術等領域具有廣泛的應用，其成像和分析能力使其成為研究微觀世界的重要工具。FEI掃描透射電子顯微鏡利用場發(fā)射電子槍產生高亮度的電子束，并通過一系列精密的透鏡系統(tǒng)將其聚焦到極小的尺寸。這些電子束在樣品表面進行掃描時，會與樣品內部的原子和分子發(fā)生相互作用，產生包括散
2024
10-23

SEM掃描電鏡中，如何保證圖像的高分辨率和高質量？
在SEM掃描電鏡中，保證圖像的高分辨率和高質量是實驗成功的關鍵。以下是一些關鍵步驟和注意事項，以確保獲得高質量的圖像：1.選擇合適的加速電壓加速電壓決定了電子束的能量和穿透能力。較低的加速電壓(如1-5kV)通常適用于高分辨率的表面成像，因為它能減少電子在樣品中的散射，從而提高表面細節(jié)的分辨率。然而，對于較厚的樣品，可能需要較高的加速電壓(如10-30kV)來穿透樣品并獲取內部信息。因此，選擇合適的加速電壓是平衡穿透深度和分辨率的關鍵。2.優(yōu)化工作距離工作距離是電子束從透鏡到樣品表面的距離。較短

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賽默飛電子顯微鏡

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