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2024
10-23

SEM掃描顯微鏡的基本構(gòu)造包括哪些主要部件？
SEM掃描顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）是一種利用電子束掃描樣品表面，通過收集和分析電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號來觀察樣品表面形貌和進(jìn)行成分分析的現(xiàn)代電子顯微鏡。其基本構(gòu)造主要包括以下幾個主要部件：1.電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍：作為電子束的發(fā)射源，常用的有熱場發(fā)射電子槍和冷場發(fā)射電子槍，它們能夠產(chǎn)生速度一致、路徑平行的高能電子束。聚光系統(tǒng)：包括一系列電磁透鏡，如聚焦透鏡和物透鏡，用于對電子束進(jìn)行聚焦和調(diào)制，確保電子束能夠精確地照射在樣品表面的微區(qū)上。掃描系統(tǒng)
2024
10-14

fei掃描透射電子顯微鏡在環(huán)境科學(xué)中的角色
fei掃描透射電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可以用來觀察納米尺度以下的物體結(jié)構(gòu)。在環(huán)境科學(xué)中，扮演著重要的角色，可以幫助科研人員研究和理解環(huán)境中微觀結(jié)構(gòu)的特征和性質(zhì)。以下是fei掃描透射電子顯微鏡在環(huán)境科學(xué)中的應(yīng)用和重要性：1、研究納米顆粒：納米顆粒是環(huán)境中的一種微觀顆粒物，具有特殊的物理和化學(xué)性質(zhì)。它可以幫助科研人員觀察和分析這些納米顆粒的形貌、大小、結(jié)構(gòu)和組成，從而深入了解它們的性質(zhì)和行為。2、分析污染物：環(huán)境中存在各種污染物，如重金屬、有機化合物等。也可以對這些污染物進(jìn)行高分辨率的觀察
2024
10-08

冷凍透射電子顯微鏡在納米技術(shù)中的應(yīng)用
冷凍透射電子顯微鏡是一種強大的工具，它在納米技術(shù)中發(fā)揮著重要作用。通過將樣品冷凍在非常低的溫度下，可以提供高分辨率的圖像，揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。這種技術(shù)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)和納米技術(shù)的研究領(lǐng)域，為研究人員提供了對納米尺度物質(zhì)行為的見解。冷凍透射電子顯微鏡在納米技術(shù)中的應(yīng)用主要包括以下幾個方面：1、納米材料結(jié)構(gòu)表征：可以用來觀察和分析各種納米材料的結(jié)構(gòu)，包括納米顆粒、納米管、納米片等。通過高分辨率的圖像，研究人員可以了解納米材料的形貌、尺寸、形狀和結(jié)構(gòu)，從而設(shè)計和優(yōu)化新型納米材料。2、納米
2024
09-11

鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
鎢燈絲掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過收集和分析反射電子、透射電子和二次電子等信號，從而獲得樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)等信息的顯微鏡。鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛，主要包括以下幾個方面：1、材料表面形貌觀察：它可以對材料的表面形貌進(jìn)行高分辨率的觀察，如金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料等。通過對材料表面形貌的觀察，可以了解材料的微觀結(jié)構(gòu)，為材料的性能優(yōu)化提供依據(jù)。2、材料斷面結(jié)構(gòu)分析：也可以對材料的斷面結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，如晶體結(jié)構(gòu)、晶界、相界面等。通過對材料斷面結(jié)構(gòu)的分析，可以了解材料
2024
09-08

場發(fā)射掃描電子顯微鏡的工作原理
場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種利用高能電子束對樣品表面進(jìn)行掃描，從而獲得高分辨率的圖像的儀器。其工作原理主要包括以下幾個步驟：1、電子源：場發(fā)射掃描電子顯微鏡的電子源通常采用場發(fā)射電子槍。通過在尖銳的金屬施加高電壓，使得金屬產(chǎn)生強電場，從而使金屬內(nèi)部的電子被拉出并加速。這種電子源產(chǎn)生的電子束具有高亮度、高相干性和小能量擴散等特點，有利于提高分辨率和信號強度。2、電子透鏡系統(tǒng)：從發(fā)出的電子束經(jīng)過一系列的電磁透鏡和光闌進(jìn)行聚焦和整形，形成直徑約為幾納米的高能電子束。這些透鏡系統(tǒng)包括物鏡、中間透鏡和投影透
2024
09-05

sem掃描電鏡中的分辨率是由什么決定的？
sem掃描電鏡的分辨率是由多個因素決定的，包括電子束的大小、電子束的能量、樣品的導(dǎo)電性、樣品的厚度、樣品的表面粗糙度等。首先，電子束的大小是影響sem掃描電鏡分辨率的重要因素。電子束越小，分辨率越高。電子束的大小主要由電子槍的類型和設(shè)計決定。目前常用的電子槍有熱發(fā)射電子槍和場發(fā)射電子槍。熱發(fā)射電子槍的分辨率一般在微米級別，而場發(fā)射電子槍的分辨率可以達(dá)到納米級別。其次，電子束的能量也會影響分辨率。電子束的能量越高，其波長越短，理論上分辨率就越高。但是，過高的能量會導(dǎo)致樣品的損傷，因此需要根據(jù)樣品的
2024
09-02

fei透射電子顯微鏡在生物科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用
在生物科學(xué)領(lǐng)域，fei透射電子顯微鏡發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。作為一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器，它能夠提供生物樣品的納米級微觀內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像，這對于生物學(xué)的研究具有極大的價值。以下是fei透射電子顯微鏡在生物科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用：1、微生物學(xué)研究：通過TEM觀察細(xì)菌、支原體等微生物的超微結(jié)構(gòu)形態(tài)，可以研究其結(jié)構(gòu)和生長發(fā)育，為微生物學(xué)的研究提供重要手段。2、臨床病理診斷：生物體發(fā)生疾病會導(dǎo)致細(xì)胞發(fā)生形態(tài)和功能上的改變，能夠清晰展現(xiàn)出這些變化，為疾病診斷提供有力的證據(jù)。3、生物大分子復(fù)合體研究：可用于
2024
08-12

X射線光電子能譜儀的組成與應(yīng)用
X射線光電子能譜儀（XPS）是一種高性能的表面分析技術(shù)，它能夠提供關(guān)于材料表面元素組成、化學(xué)狀態(tài)和電子結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。XPS的基本原理是使用X射線照射樣品，當(dāng)X射線光子與樣品中的原子相互作用時，會激發(fā)原子內(nèi)層電子（如K層或L層電子）成為光電子。這些光電子的動能取決于被激發(fā)電子的結(jié)合能、X射線光子的能量以及逸出功。結(jié)合能反映了電子與原子核之間的相互作用強度，因此對于特定元素的不同化學(xué)狀態(tài)，結(jié)合能會有細(xì)微的差別。通過測量這些光電子的動能，可以確定樣品表面的元素種類及其化學(xué)狀態(tài)。X射線光電子能譜儀主要
2024
08-11

冷凍聚焦離子束顯微鏡在細(xì)胞研究中的作用
冷凍聚焦離子束顯微鏡技術(shù)是一種在低溫條件下使用聚焦離子束對樣品進(jìn)行加工和成像的方法。這種技術(shù)通常與掃描電子顯微鏡(sem)或透射電子顯微鏡(tem)結(jié)合使用，以研究材料的微觀結(jié)構(gòu)和成分。在細(xì)胞研究中，冷凍聚焦離子束顯微鏡的作用主要體現(xiàn)在以下幾個方面：1.樣品制備：傳統(tǒng)的細(xì)胞樣品制備方法可能會引入人為的形態(tài)變化或化學(xué)固定劑的偽跡，而它可以在接近生理狀態(tài)下快速冷凍固定細(xì)胞，減少樣品制備過程中的偽跡和損傷。這種方法有助于保持細(xì)胞的原始結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成，為后續(xù)的高分辨率成像提供良好的基礎(chǔ)。2.精確切割：也
2024
08-09

知識大禮包-ChemiSEM助您提升元素分析水平
更快、更優(yōu)、更加經(jīng)濟實惠的能譜數(shù)據(jù)采集與分析現(xiàn)如今，廣大科研用戶已經(jīng)非常熟悉用掃描電鏡(SEM)搭配能量色散X射線能譜(EDS)用于確定樣品的元素組成。然而，既能制造掃描電鏡又能制造能譜探測器的儀器廠商少之又少，這使得科研用戶通常采購不同廠商的SEM和EDS系統(tǒng)。這在實際使用過程中往往帶來額外的麻煩和困擾。而ChemiSEM的推出則大大減少了這些問題。比如：硬件和軟件來自同一廠商，沒有軟硬件整合問題。同一個軟件控制掃描電鏡和能譜，無需在不同的界面之間切換。數(shù)據(jù)同步和下載更容易。只需要處理一個供應(yīng)
2024
08-08

fei雙束電子顯微鏡的分辨率受哪些因素影響？
fei雙束電子顯微鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡(sem)和聚焦離子束(fib)技術(shù)。這種設(shè)備通常用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、失效分析等領(lǐng)域，能夠進(jìn)行高分辨率成像、精確切割以及樣品制備等操作。fei雙束電子顯微鏡的分辨率受多種因素影響，主要包括以下幾點：1、電子光學(xué)系統(tǒng)：電子槍的類型、電磁透鏡的設(shè)計和質(zhì)量、電子束的穩(wěn)定性都會影響最終的圖像分辨率。高質(zhì)量的電子源和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)可以提供更細(xì)的電子束探針，從而提高分辨率。2、樣品與探測器之間的相互作用：樣品本身的導(dǎo)電性、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、化學(xué)組成以及樣品室中的真空度都
2024
08-05

sem掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？
sem掃描電子顯微鏡是一種利用細(xì)聚焦的電子束掃描樣品表面，并通過檢測從樣品中激發(fā)出的二次電子、背散射電子等信號來獲取樣品表面形貌和組成的高分辨率成像設(shè)備。sem掃描電子顯微鏡的工作原理可以概括為以下幾個步驟：1、電子槍發(fā)射電子：使用一個電子槍來產(chǎn)生一束高速電子。這些電子通過高壓加速，通常在幾千到幾十千伏之間，以獲得足夠的能量。2、電子束成形與聚焦：產(chǎn)生的電子束通過一系列的電磁透鏡進(jìn)行聚焦和整形，最終形成一個直徑很小(納米至微米級別)的探針。3、掃描線圈控制電子束掃描：電子束隨后進(jìn)入一套掃描線圈，
2024
08-02

fei掃描電子顯微鏡在樣品制備中的應(yīng)用
fei掃描電子顯微鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，它通過掃描樣品表面并利用電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號來獲得高分辨率的圖像。它能夠提供比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡更高的放大倍數(shù)和更深的景深，因此在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)以及工業(yè)領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。在樣品制備方面，fei掃描電子顯微鏡要求樣品必須具備幾個關(guān)鍵特性，包括：1、導(dǎo)電性：由于它是利用電子束掃描樣品，非導(dǎo)電樣品會導(dǎo)致電子束散射及充電，影響圖像質(zhì)量。因此，非導(dǎo)電樣品通常需要涂覆一層薄金屬(如金、鉑或碳)以增強其表面導(dǎo)電性。2、穩(wěn)定性：樣品在真空和電子束照射
2024
08-01

案例分享｜利用Apreo 2 SEM對竹狀碳納米管進(jìn)行復(fù)雜表征
您是一位研究員、工程師還是對納米技術(shù)和材料研究有濃厚興趣的科研工作者嗎？如果是，您可能會感興趣我們最新的應(yīng)用示例手冊！作為納米技術(shù)中最有前景的材料之一，理解竹狀碳納米管（CNTs）的獨特性質(zhì)和潛在應(yīng)用至關(guān)重要。在這個應(yīng)用示例中，我們充分展示了高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡Apreo2（SEM）出色的成像能力和其搭配的Avizo2D軟件的強大圖像處理和統(tǒng)計分析能力。我們詳細(xì)介紹了如何使用這些工具來識別和測量竹狀碳納米管和參與其形成的催化粒子的各種特征。但我們并沒有止步于此！我們還展示了ThermoSc
2024
07-12

生成式AI與藥物發(fā)現(xiàn): Generate:Biomedicines研發(fā)案例分享
2024
07-12

技術(shù)分享丨賽默飛RGB CL陰極熒光探測器
01陰極發(fā)光（CL）原理陰極發(fā)光是固體物質(zhì)的一種表面物理熒光現(xiàn)象，在掃描電鏡中，當(dāng)一束高能電子束轟擊固體樣品的表面時，入射電子與樣品發(fā)生作用，產(chǎn)生諸如二次電子、背散射電子、特征X射線、俄歇電子等信號，而對于某些特定材料，如礦物、氧化鋁、三/五族材料（GaAs，InGaN）、磷光劑、燃料及一些有機化合物等，入射電子會將材料的電子轟擊至導(dǎo)帶讓其處于激發(fā)態(tài)，受轟擊電子會快速回復(fù)至價帶，回復(fù)過程中產(chǎn)生的能量差就以可見光的形式釋放出來，即陰極發(fā)光，陰極發(fā)光是一種熒光，又稱陰極熒光，其發(fā)光波譜多數(shù)為可見光范
2024
07-12

ChemiPhase——更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析
QUESTION您是一位研究員、工程師還是對金屬材料研究有濃厚興趣的科研工作者嗎？如果是，您可能會感興趣我們最新的應(yīng)用示例手冊！不管是金屬增材制造中的新材料，還是復(fù)雜材料中的雜質(zhì)，分析它們的元素組成成分向來是一個充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。在這個應(yīng)用示例中，我們充分展示了ThermoScientificChemiSEM™技術(shù)如何在SEM表征過程中提供實時元素信息，并且利用其搭配的ChemiPhase軟件的強大譜圖分析能力進(jìn)行物相分析。我們詳細(xì)介紹了如何使用這些工具來將復(fù)雜材料清晰地分離為各個組分/物相，鑒定
2024
07-11

描述fei冷凍透射電鏡的樣品制備過程
fei冷凍透射電鏡是一種用于研究生物大分子、細(xì)胞器、病毒和蛋白質(zhì)等生物樣品的顯微技術(shù)。樣品被快速冷凍并保持在低溫下，以保持其天然狀態(tài)和水分。這種方法可以提供高分辨率的圖像，同時避免了傳統(tǒng)化學(xué)固定和染色方法可能引起的結(jié)構(gòu)變化。以下是fei冷凍透射電鏡樣品制備的詳細(xì)過程：1、樣品準(zhǔn)備：首先，需要準(zhǔn)備一個適當(dāng)濃度的生物樣品。對于蛋白質(zhì)或病毒樣品，通常需要調(diào)整到適當(dāng)?shù)木彌_液中，并確保樣品的純度和濃度適合觀察。對于細(xì)胞樣品，可能需要進(jìn)行輕微的處理，如低滲處理，以便更好地觀察細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)。2、樣品裝載：使用
2024
07-08

fei透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域有哪些應(yīng)用？
fei透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著極其重要的角色，因為它能夠提供材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、化學(xué)組成以及電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。高分辨率和多功能性使其成為研究材料性能與微觀結(jié)構(gòu)關(guān)系的理想工具。以下是fei透射電鏡在材料科學(xué)中的一些主要應(yīng)用：1、納米材料表征：它是研究納米顆粒、納米線、納米管和其他納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具。它可以揭示這些材料的尺寸、形狀、結(jié)晶度和缺陷結(jié)構(gòu)，這些都是影響其物理和化學(xué)性質(zhì)的重要因素。2、薄膜和涂層分析：用于分析薄膜和涂層的厚度、均勻性、界面結(jié)構(gòu)和缺陷。這些信息對于優(yōu)化薄膜的生長條件
2024
07-05

簡要分析fei掃描透射電子顯微鏡的工作原理
fei掃描透射電子顯微鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的原理，聚焦的電子束掃描過薄樣品，并通過樣品下方的探測器來收集透過樣品的電子。由于電子與樣品相互作用，部分電子會被散射，而探測器接收到的是未被散射的透射電子。以下是fei掃描透射電子顯微鏡的基本工作原理：1、電子槍發(fā)射電子：使用電子槍產(chǎn)生高速電子束。這些電子被加速到高能量狀態(tài)，以便它們能夠穿透非常薄的樣品。2、電子束聚焦：通過一系列的電磁透鏡系統(tǒng)，將電子束聚焦成非常細(xì)小的探針。這個細(xì)小的探針隨后用于掃描樣品。3、掃描

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賽默飛電子顯微鏡

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