INTECS晶圓目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
2025-02-22
![]() |
晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
產(chǎn)品介紹:
當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(*1) ,會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象,因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。
*1:半導(dǎo)體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等!
UIH-1C型規(guī)格
京都玉崎 熱銷 INTECS英特斯現(xiàn)貨超高亮照明裝置UIH-1C
UIH-2D型規(guī)格
*1 為了保護(hù)燈泡,即使在主電源開關(guān)關(guān)閉的情況下
,仍可通過風(fēng)扇維持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 以下的功能。
UIH-3D型規(guī)格
深圳市京都玉崎電子有限公司
- 晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)
- INTECS-晶圓目視用UIH-1H霧度照明裝置
- 手持式晶圓缺陷光學(xué)玻璃檢查燈FY-18LH
- YAMADA晶圓缺陷YP-150I 400,000LX照明
- 光學(xué)檢測目視用YP-250ID /yp-150id
- 目視測目視用霧度檢查裝置YP-150ID現(xiàn)貨
- YP-150ID光學(xué)檢測YP-250I目視用裝置 現(xiàn)
- 晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備
- 京都玉崎-光學(xué)檢測設(shè)備目視光源185HLE-
- 安德魯斯S-VAN光學(xué)檢測目視光源185LE現(xiàn)
- SENA 高照度晶圓缺陷表面檢查燈185LE現(xiàn)
- 晶圓缺陷表面檢查燈sena lamp現(xiàn)貨370TF