TX220型X射線膜厚儀

TX220型X熒光測厚儀快速、準確、無損的分析多層鍍層、合金鍍層/涂層,是工業(yè)電鍍層X熒光測厚儀的*產(chǎn)品.

X射線膜厚儀應用范圍
鍍層測厚分析、電鍍液離子濃度分析。適用于電鍍、真空鍍、離子鍍的X熒光測厚儀。
鋼鐵、有色金屬、塑膠、廢舊原料回收元素分析

性能指標
可測鍍層： zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
鍍層種類： 單金屬、合金、無機薄膜
精度： zui高可達0.01um
厚度相對誤差： 單層5%，多層10%
厚度范圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
zui小測量直徑： 2mm
分析時間： 20～100S

技術參數(shù)
探測器： 正比計數(shù)器

X光管： 鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1mA
高壓電源： 精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
濾光片： 6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
準直器： 直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
對焦系統(tǒng)： 旋鈕視覺對焦
樣品腔： 大氣
樣品觀察： 高清晰彩色CCD射線頭
X射線防護： 三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制）

輸入電壓： AC 220V/50HZ
功耗： 260W
樣品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 40Kg

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