? 常規(guī)的定性和定量分析
? 殘余應(yīng)力分析
? 薄膜，質(zhì)地
? 非常規(guī)環(huán)境分析
? 殘留奧氏體定量分析
? 晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算
SPD 2000多功能X射線衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域
? 環(huán)境，土壤/巖石，粘土，礦石，陶瓷
? 水泥，玻璃，石油，催化劑，聚合物
? 農(nóng)業(yè)科學(xué)，生物科學(xué)，化學(xué)，醫(yī)藥，化妝品，涂料
? 核工業(yè)，鋼鐵，紡織，電子和磁性材料

SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案，從常規(guī)的定性和定量分析，到殘余應(yīng)力分析，薄膜，質(zhì)地，非環(huán)境分析，殘余奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算。
SPD 2000的特點(diǎn)
多功能X射線衍射儀
有原位微處理器的超高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器，微處理器可通過電腦串行接口控制
帶有可旋轉(zhuǎn)管的管罩，可以使用點(diǎn)聚焦或行聚焦
調(diào)焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率
使用Max-FluxTM光學(xué)系統(tǒng)的平行光束光學(xué)
透射模式和反射模式之間可以自動(dòng)轉(zhuǎn)換
高精度，高速測(cè)角儀
適合Ag，Cr， Fe， Cu， Co ， Mo 輻射的二級(jí)單色器
填充氙氣的正比，閃爍計(jì)數(shù)器，線性或彎曲的位敏檢測(cè)器（PSD）
非常規(guī)環(huán)境分析，低溫或高溫附件
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統(tǒng)，在32位環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和儀器控制
包括Rietveld精修的晶體結(jié)構(gòu)軟件