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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳> ST-DP_X-MOS管開關(guān)時(shí)間測試儀

ST-DP_X-MOS管開關(guān)時(shí)間測試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 西安天光測控技術(shù)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 西安
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2021/11/5 16:30:47
  • 訪問次數(shù) 566

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


|公司簡介:

西安天光測控技術(shù)有限公司 是一家從事 半導(dǎo)體功率器件測試設(shè)備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技技術(shù)企業(yè)。

經(jīng)營產(chǎn)品包括:晶體管圖示儀

                     半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng);

                     Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs的電參數(shù)及可靠性和老化測試

                     靜態(tài)測試(包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs 等);

                     動(dòng)態(tài)測試(包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);

                     環(huán)境老化測試(包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge 等);

                     熱特性測試(包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve 等)各類全系列測試設(shè)備。

       一直以來被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件上游產(chǎn)業(yè)(設(shè)計(jì)、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等元器件的應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈)。

公司團(tuán)隊(duì)匯集了來自國內(nèi)*院校及電力電子行業(yè)的專家教授,擁有眾多的革命性創(chuàng)新技術(shù)。產(chǎn)品成熟可靠,久經(jīng)市場考驗(yàn),在替代進(jìn)口產(chǎn)品方面有著突出的優(yōu)勢。公司從產(chǎn)品到服務(wù),從技術(shù)咨詢到現(xiàn)場支持,可覆蓋功率器件的初始研發(fā)到規(guī)?;a(chǎn)的整個(gè)領(lǐng)域。

  展望未來,公司將全力發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的專家級(jí)技術(shù)支持以及更多的經(jīng)典產(chǎn)品。

 

 

半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)|IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀|IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測試儀| 功率循環(huán)試驗(yàn)臺(tái)|高溫反偏差測試系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池

產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀

半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)

動(dòng)態(tài)參數(shù)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)

環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)

熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)

可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件



ST-DP_X(1200V200A)

MOSFET&IGBT開關(guān)時(shí)間測試儀 ITC57300替代產(chǎn)品

用于 Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&IGBT開關(guān)時(shí)間參數(shù)測試

1200V/200A的輸出能力,覆蓋幾乎所有的半導(dǎo)體分立式單管器件



開通延遲 td(on) 0.1ns~10us    關(guān)斷延遲 td(off) 0.1ns~10us


上升時(shí)間 tr 0.1ns~10us           下降時(shí)間 tf 0.1ns~10us


  開通時(shí)間 ton 0.1ns~10us        關(guān)斷時(shí)間 toff 0.1ns~10us


 開通損耗 Eon 1uJ~1000mJ     關(guān)斷損耗 Eoff 1uJ~1000mJ


拖尾電流 0.1A~30A




?產(chǎn)品簡述
     ST-DPX 系列產(chǎn)品是主要針對(duì) 半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)測試 而開發(fā)設(shè)計(jì)。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換,可測試各類封裝外觀的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產(chǎn)品功能模塊化設(shè)計(jì),根據(jù)用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT(雙脈沖測試 Double Pulse Testing,以下簡稱DPT。包含開通特性、關(guān)斷特性、反向恢復(fù)特性)柵電荷、短路、雪崩、結(jié)電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計(jì),滿足用戶潛在的后期需求,*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA,變溫測試支持常溫到200℃,支持生產(chǎn)線批量化全自動(dòng)測試。




?產(chǎn)品特點(diǎn)

? 測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個(gè)模塊,電流以2000A為一個(gè)模塊,可擴(kuò)展至10KA/10KV

? 內(nèi)置7顆標(biāo)準(zhǔn)電感負(fù)載可選用, 另有外接負(fù)載接口,可實(shí)現(xiàn)不同電感和電阻負(fù)載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)

? 另有程控式電感箱可供選擇

? 針對(duì)不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀,通過更換 DUT適配器即可

? 可進(jìn)行室溫到200℃的變溫測試,也可實(shí)現(xiàn)子單元測試功能

? 測試軟件具有實(shí)驗(yàn)?zāi)J胶蜕a(chǎn)模式,測試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件

? 門極電阻可任意調(diào)整, 系統(tǒng)內(nèi)部寄生電感為*小至50nH

? 系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測試應(yīng)用(24hr 工作)

? 安全穩(wěn)定(PLC 對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖)

? 系統(tǒng)具有安全工作保護(hù)功能,以防止模塊高壓大電流損壞時(shí)對(duì)使用者造成傷害,設(shè)計(jì)符合CE認(rèn)證

? 支持半自動(dòng)和全自動(dòng)測試

? 采用品牌工控機(jī),具有抗電磁*力強(qiáng),排風(fēng)量大等特點(diǎn)

? 自動(dòng)化:單機(jī)測試時(shí)只需手動(dòng)放置DUT,也可連接機(jī)械選件實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試線

? 智能化,通過主控計(jì)算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯,測試結(jié)果自動(dòng)保存及上傳局域網(wǎng)

? 安全性,防爆,防觸電,防燙傷,短路保護(hù)等多重保護(hù)措施,確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。



?參數(shù)指標(biāo)










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