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CAMTEK AOI碳化硅(SiC) CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)AOI 碳化硅(SiC) 應(yīng)用
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) CAMTEK AOI碳化硅(SiC)
- 產(chǎn)地 歐洲
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/25 15:59:46
- 訪問次數(shù) 661
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)AOI設(shè)備 在 碳化硅(SiC) 領(lǐng)域的應(yīng)用
碳化硅碳化硅晶片是未來一代半導(dǎo)體材料,具有*的電學(xué)性能和優(yōu)異的熱性能。 與硅片和砷化鎵晶片相比,碳化硅晶片更適合高溫和高功率設(shè)備應(yīng)用程序。
Camtek開發(fā)專用的檢驗(yàn)和計(jì)量解決方案,以及分析工具來解決這一新興市場。
功能
•處理透明材料區(qū)域使用黑暗查克在晶片上
•背光查克的早期階段的過程
•朋友處理透明的晶片
•eef——邊緣控制能力
•自動(dòng)缺陷分類(ADC)基于收益管理的深度學(xué)習(xí)
•弓測量
•預(yù)測收益率-晶圓缺陷位置精度< 2um
技術(shù)
•sts -表面形貌傳感器
•背光
產(chǎn)品
EagleT-AP
為先進(jìn)的包裝設(shè)計(jì)市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗(yàn)和計(jì)量在同一平臺(tái)上,同時(shí)保持*的性能和吞吐量水平。
EagleT-i
設(shè)計(jì)的速度和準(zhǔn)確性,Camtek EagleT-i是一個(gè)快的和的2 d檢查工具在市場上。
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