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TFW-100(2) LAMBDA拉姆達(dá)lambda工業(yè)分光膜厚測量儀

參考價(jià) 30000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 美薩科技(蘇州)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 TFW-100(2)
  • 產(chǎn)地 日本
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/6/21 17:21:43
  • 訪問次數(shù) 12

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美薩科技(蘇州)有限公司成立于2016年12月,坐落于蘇州姑蘇古城區(qū),是一家以經(jīng)營日本、中國、美國、德國品牌半導(dǎo)體和儀器儀表工業(yè)產(chǎn)品為主的日系綜合性貿(mào)易商。

經(jīng)營理念:誠信求實(shí),持續(xù)專注,共存共贏.

使命:為工業(yè)新技術(shù)創(chuàng)造和提供持續(xù)發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

愿景:成為一家專業(yè)高精度的儀器設(shè)備與半導(dǎo)體部品方案解決公司

環(huán)境理念:

美薩科技(蘇州)有限公司誦過銷售電子測量器、儀器儀表、自動化備品備件,觀測,圖像相關(guān)設(shè)備,試驗(yàn)機(jī),積極地為地球環(huán)境的改善提出建議、行動,為社會做出貢獻(xiàn)

環(huán)境方針:

充分認(rèn)識到本公司進(jìn)行的事業(yè)活動或服務(wù)對環(huán)境的影響,執(zhí)行防止環(huán)境污染的活動。

遵守與環(huán)境相關(guān)的法令以及本公司同意的要求事項(xiàng)。

設(shè)置環(huán)境目標(biāo),通過內(nèi)部監(jiān)查檢查其進(jìn)展?fàn)顩r、達(dá)成狀況、結(jié)構(gòu),以其結(jié)果為基礎(chǔ)進(jìn)行改善。

本環(huán)境方針將文件化,傳達(dá)給全體員工以及為本公司工作的所有人。另外,該環(huán)境方針將刊登在本公司主頁上,并廣泛向公司外公開。

 

 

 

 

 

組裝工具,科學(xué)儀器,分析儀器,小型設(shè)備,工業(yè)設(shè)備,防靜電器材,半導(dǎo)體泵,半導(dǎo)體流量計(jì)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 汽車及零部件

LAMBDA拉姆達(dá)lambda工業(yè)分光膜厚測量儀
分光膜厚測量 TFW-100(1)/(2)/(3)

這是工業(yè)領(lǐng)域的低成本光譜膜厚測量設(shè)備。

由于它是非接觸式和非破壞性的,因此可以在短時(shí)間內(nèi)輕松測量而不會損壞樣品。

它廣泛用于研發(fā)和在線質(zhì)量控制中的膜厚測量。

以低廉的價(jià)格實(shí)現(xiàn)了高精度和高穩(wěn)定性。

LAMBDA拉姆達(dá)lambda工業(yè)分光膜厚測量儀
LAMBDA拉姆達(dá)lambda工業(yè)分光膜厚測量儀 <特點(diǎn)>
?可進(jìn)行非接觸式、非破壞性的膜厚測量。
?厚度為 10nm~1000μm,可支持多達(dá) 3 層的膜厚測量。
?不僅可以測量薄膜厚度,還可以測量光學(xué)倍增器(n、k)。
(最多 3 個(gè)參數(shù))
? 與微小點(diǎn)兼容。
?還可以測量彩色濾光片顏料膜的厚度。
■ 規(guī)格

類型TFW-100型 (1)TFW-100型 (2)TFW-100型 (3)






























用于 ITO 等薄膜一般用于薄膜厚度彩色濾鏡顏料用于
薄膜厚度































測量的薄膜厚度數(shù)量:10nm ~ 500nm (C/F),
500nm ~ 15μm (FFT)
150nm~1.5μm(C/F)
1.5μm~60μm(FFT)
500nm~10μm(C/F)






























測量可重復(fù)性0.2%~1%(取決于薄膜質(zhì)量)






























測量波長300納米~1000納米400 納米~700 納米900納米~1600納米






























光源12V-100W 鹵素?zé)?/td>
測量軟件TF-Lab (曲線擬合 / FFT)































■ 膜厚測量的應(yīng)用實(shí)例

(1) 與晶圓輸送機(jī)相結(jié)合的自動測量
(2) 使用帶有 XYZ 平臺的樣品測量臺進(jìn)行測量








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