| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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日本小坂研究所（KOSAKA）SE600表面粗糙度儀的綜合信息整理：
?一、核心功能與特性?
?測(cè)量能力?
支持三維粗糙度及輪廓測(cè)量（SE600K型號(hào)），垂直方向（Z軸）測(cè)量范圍達(dá)±600μm，水平方向（X軸）行程100mm12。
高精度放大倍率：縱向50～500,000倍，橫向1～5,000倍，適用于微米級(jí)表面形貌分析1。
?國(guó)際合規(guī)性?
兼容JIS、ISO、DIN、ASME、BS等主流粗糙度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，可靈活配置濾波參數(shù)、截止值及運(yùn)算方式17。
?自動(dòng)化與智能化?
支持自定義測(cè)量流程自動(dòng)化組合，具備縱/橫軸自動(dòng)校正功能，減少人工誤差1。
數(shù)據(jù)圖表自由布局，適配多樣化報(bào)告需求17。
?二、技術(shù)參數(shù)?
?項(xiàng)目? | ?規(guī)格? |
測(cè)量范圍（Z軸） | ±600μm |
測(cè)量范圍（X軸） | 100mm |
送料速度 | 0.05～2mm/s |
適用標(biāo)準(zhǔn) | JIS(2001/94/82)、DIN、ISO、ASME1 |
同系列衍生型號(hào) | SE300、SE500、SE600K31、SE700等12 |
?三、應(yīng)用場(chǎng)景?
?精密制造業(yè)?：汽車零部件、軸承、半導(dǎo)體晶圓、FPD基板等高精度表面粗糙度與輪廓測(cè)量27。
?科研領(lǐng)域?：適用于材料磨損分析、薄膜應(yīng)力檢測(cè)及微細(xì)臺(tái)階形貌研究8。
?四、優(yōu)勢(shì)技術(shù)?
?接觸式探針技術(shù)?：采用金剛石探針直接接觸工件表面，精準(zhǔn)捕捉微米級(jí)凹凸特征8。
?模塊化設(shè)計(jì)?：可擴(kuò)展為粗糙度+輪廓一體機(jī)（如SEF580系列）或微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)（ET系列）
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