在精密光學、半導體和制造領域，表面形貌測量對產品質量控制至關重要。ZYGO共聚焦激光干涉儀結合共聚焦顯微技術與激光干涉測量原理，為納米級表面檢測提供了有效的解決方案。

技術特點

ZYGO共聚焦激光干涉儀的主要優(yōu)勢包括：

• 高分辨率測量：可實現亞納米級垂直分辨率，適用于超光滑表面檢測

• 非接觸測量：避免接觸式測量可能帶來的樣品損傷

• 快速掃描：通過高速數據采集提升檢測效率

• 寬范圍適用：兼容從粗糙到超光滑的不同表面特性

典型應用場景

該設備已成功應用于多個領域：

• 光學元件檢測：透鏡、反射鏡等光學表面形貌測量

• 半導體制造：晶圓、光刻掩模版的表面質量評估

• 精密加工：機械零件、模具的表面粗糙度分析

• 科研領域：新材料表面特性的微觀研究

智能化操作體驗

設備配備專業(yè)分析軟件，提供：

• 自動化測量流程

• 三維形貌重建功能

• 多種表面參數分析選項

• 用戶友好的操作界面

結語

ZYGO共聚焦激光干涉儀憑借其測量精度和可靠性，為工業(yè)檢測和科學研究提供了有力的表面分析工具。如需了解該設備的詳細技術參數或應用案例，歡迎咨詢ZYGO專業(yè)技術團隊獲取更多信息。ZYGO共聚焦激光干涉儀高精度表面測量選擇