在微納尺度表面表征領域，Sensofar S neox光學輪廓儀通過創(chuàng)新的多技術融合設計，為科研與工業(yè)應用提供了可靠的測量解決方案。該設備整合了共聚焦顯微鏡、干涉儀和白光干涉儀三種測量模式，能夠適應不同特性的樣品表面分析需求。

多模式測量技術特點：

• 共聚焦模式適用于高陡坡表面測量

• 干涉模式可實現(xiàn)亞納米級分辨率

• 白光干涉模式提供較大視場的三維形貌重建

• 自動模式識別功能可智能選擇優(yōu)良測量方案

典型應用場景：

1. 微電子行業(yè)：晶圓、MEMS器件表面檢測

2. 精密加工：刀具、模具表面質量評估

3. 材料研究：涂層、薄膜表面形貌分析

4. 生物醫(yī)學：植入物表面特性表征

智能化操作體驗：

• 配備直觀的測量分析軟件

• 支持自動化測量流程

• 提供全面的表面參數(shù)分析功能

• 可定制化測量方案滿足特殊需求

Sensofar S neox憑借其靈活的多技術集成設計，為表面形貌測量提供了更多可能性。如需了解設備詳細技術參數(shù)或獲取應用支持，歡迎聯(lián)系Sensofar專業(yè)技術服務團隊。