技術(shù)亮點與性能突破

ZYGO白光干涉儀光學之力重塑工業(yè)檢測標準 ZYGO白光干涉儀突破傳統(tǒng)設(shè)備的局限性，采用動態(tài)相位鎖定技術(shù)與自適應光程補償算法，實現(xiàn)三大核心優(yōu)勢：

• 超寬動態(tài)范圍：支持0.1nm-200μm的垂直測量跨度，無需切換設(shè)備即可檢測從原子級平整表面到微米級溝槽結(jié)構(gòu)。

• 智能環(huán)境適應：內(nèi)置溫度漂移補償模塊（精度±0.01℃/h）與SureScan™振動抑制技術(shù)，確保車間環(huán)境下的測量穩(wěn)定性。

• 多模態(tài)分析：集成共聚焦顯微模塊與偏振干涉選項，可同步獲取表面形貌、膜層應力與晶體取向信息。

硬件配置與材料選型

• 光源系統(tǒng)：定制化白光LED陣列（色溫6500K），配合可調(diào)諧濾波器實現(xiàn)波長范圍400-1000nm連續(xù)調(diào)節(jié)。

• 探測器：1024×1024像素CMOS相機（幀率120fps），支持HDR模式下的高動態(tài)范圍成像。

• 運動控制：閉環(huán)直線電機驅(qū)動XY平臺（重復定位精度±0.1μm），搭配納米級壓電陶瓷Z軸（分辨率0.01nm）。

典型應用案例庫

操作流程簡化設(shè)計

1. 一鍵式校準：通過內(nèi)置標準樣塊（臺階高度100nm±0.5nm）自動完成系統(tǒng)標定，耗時＜2分鐘。

2. 智能路徑規(guī)劃：Mx™軟件根據(jù)樣品尺寸自動生成掃描軌跡，避免重復測量與邊緣效應。

3. 云端數(shù)據(jù)管理：支持與ZYGO LABSUITE平臺無縫對接，實現(xiàn)測量數(shù)據(jù)實時上傳與多終端共享。

維護與售后服務(wù)體系

• 模塊化維護：光學頭、運動平臺等核心部件采用快速插拔設(shè)計，現(xiàn)場更換時間＜30分鐘。

• 預防性維護：通過IoT模塊遠程監(jiān)控設(shè)備狀態(tài)，提前預警光源衰減、電機磨損等潛在故障。

• 全球服務(wù)網(wǎng)絡(luò)：在美國、中國、德國等30個國家設(shè)立技術(shù)中心，提供72小時內(nèi)響應的現(xiàn)場支持服務(wù)。

型號擴展與定制能力

• ZeGage™系列：緊湊型設(shè)計（主機尺寸82×53×53cm），支持桌面化部署，適用于中小批量檢測場景。

• NewView™系列：分立龍門架構(gòu)支持超大樣品檢測（最大高度300mm），標配5軸自動樣品臺，滿足半導體、光學行業(yè)的高精度需求。

• NexView™系列：集成True Color™彩色3D成像技術(shù)，可直觀呈現(xiàn)樣品表面紋理與缺陷分布，適用于消費電子、汽車行業(yè)的品質(zhì)管控。

ZYGO白光干涉儀以“高適應性、易操作、低維護”為核心設(shè)計理念，幫助用戶將微納檢測從專業(yè)實驗室延伸至量產(chǎn)產(chǎn)線，為智能制造提供可靠的質(zhì)量控制手段。其開放式的API接口更支持與SECS/GEM、MES系統(tǒng)集成，助力企業(yè)實現(xiàn)工業(yè)4.0轉(zhuǎn)型。ZYGO白光干涉儀光學之力重塑工業(yè)檢測標準