Verifire HDX ZYGO白光干涉儀:高分辨表面測量方案?
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 ZYGO/翟科
- 型號 Verifire HDX
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/8/19 13:22:47
- 訪問次數(shù) 6
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 15萬-20萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,建材/家具,汽車及零部件,綜合 |
ZYGO白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析。其光學(xué)系統(tǒng)基于白光干涉原理,可清晰呈現(xiàn)樣品表面的三維形貌,適用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、精密加工等領(lǐng)域。ZYGO白光干涉儀:高分辨表面測量方案
產(chǎn)品性能
•測量范圍:0.1nm至10mm(垂直方向)
•橫向分辨率:最高可達(dá)0.5μm
•重復(fù)性:優(yōu)于0.1%
•支持多種測量模式:臺階高度、粗糙度、薄膜厚度等
用材與結(jié)構(gòu)
儀器主體采用高穩(wěn)定性鋁合金框架,光學(xué)部件選用低熱膨脹系數(shù)玻璃,確保長期測量穩(wěn)定性。載物臺采用防震設(shè)計,減少環(huán)境振動干擾。
參數(shù)表
型號 | 垂直分辨率 | 最大掃描范圍 | 適用樣品 |
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ZYGO-200 | 0.1nm | 1mm | 光滑表面、薄膜 |
ZYGO-500 | 0.2nm | 10mm | 粗糙表面、微結(jié)構(gòu) |
用途
•半導(dǎo)體晶圓檢測
•光學(xué)鏡面質(zhì)量分析
•MEMS器件形貌測量
•精密機(jī)械加工表面評估
使用說明
1.開機(jī)預(yù)熱10分鐘,確保系統(tǒng)穩(wěn)定。
2.放置樣品于載物臺,調(diào)整焦距至干涉條紋清晰。
3.選擇測量模式,設(shè)定掃描參數(shù)。
4.軟件自動分析數(shù)據(jù),生成3D形貌圖及關(guān)鍵參數(shù)。
ZYGO白光干涉儀:高分辨表面測量方案
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