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當前位置：上海精誠興儀器儀表有限公司>>X光鍍層測厚儀>> XRF-2000測厚儀校正片
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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所在地上海市
更新時間：2018-05-10 00:10:42瀏覽次數(shù)：1172次
聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)韓國Micro Pioneer XRF-2000測厚儀標準片
鍍層測厚儀校正片
適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
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