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便攜式厚度測試儀-日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列
閱讀：1450 發(fā)布時間：2020-8-14日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列
一種便攜式膜厚計，可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產(chǎn)效率。
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚，而無需攜帶厚膜厚計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€人計算機，也有助于防止測量過程中掉落事故。
QNIx系列功能
無需校準薄膜即可進行精que的薄膜厚度測量
提供出廠時輸入的16點校準數(shù)據(jù)。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精que的薄膜厚度測量。
膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在傳統(tǒng)的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加mi狗”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數(shù)據(jù)。
超輕便的無線測量儀
探頭測得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機。也減少了被電纜夾住或像常規(guī)產(chǎn)品一樣妨礙并導致墜落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。
QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使在極少數(shù)的故障情況下，拆卸和維修也很容易，因此可以縮短維修時間。此外，它配備了紅寶石芯片，因此您可以安全地測量樣品而不會損壞它。
QNIx系列比較規(guī)格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | QNIx方便 | |
| 可測量的電影 | [F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層 | [FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度 | ||
| 材料識別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 用戶的轉(zhuǎn)換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 鐵/有色金屬自動識別模式轉(zhuǎn)換 |
| 測量原理 | [F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流 | ||||
| 測量范圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至3,000μm | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0?5,000微米 | 0?500微米 |
| gao 分辨率 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點校正 用戶校準：1 [M] 100 | 0點校正 | 0點校正 | 沒有校準功能 | 沒有校準功能 |
| 準確性 | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） [T] ± （0.3μm+ 2％） | ±（2μm+ 3％） | ±（1μm+ 3％） | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） | ±（10微米+ 5％） |
| 測量速度 | 1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘） | 600ms （約70次/分鐘） | 1,300ms （約46次/分鐘） | 1,500ms （約40次/分鐘） | 600ms （約100次/分鐘） |
便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南
[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量
[N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量
[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度
[T]微型探針
[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C